Электронная библиотека диссертаций и авторефератов России
dslib.net
Библиотека диссертаций
Навигация
Каталог диссертаций России
Англоязычные диссертации
Диссертации бесплатно
Предстоящие защиты
Рецензии на автореферат
Отчисления авторам
Мой кабинет
Заказы: забрать, оплатить
Мой личный счет
Мой профиль
Мой авторский профиль
Подписки на рассылки



расширенный поиск

Методы и средства измерения шумовых и малосигнальных параметров мощных биполярных транзисторов для целей контроля их качества Дулов Олег Александрович

Методы и средства измерения шумовых и малосигнальных параметров мощных биполярных транзисторов для целей контроля их качества
<
Методы и средства измерения шумовых и малосигнальных параметров мощных биполярных транзисторов для целей контроля их качества Методы и средства измерения шумовых и малосигнальных параметров мощных биполярных транзисторов для целей контроля их качества Методы и средства измерения шумовых и малосигнальных параметров мощных биполярных транзисторов для целей контроля их качества Методы и средства измерения шумовых и малосигнальных параметров мощных биполярных транзисторов для целей контроля их качества Методы и средства измерения шумовых и малосигнальных параметров мощных биполярных транзисторов для целей контроля их качества
>

Диссертация, - 480 руб., доставка 1-3 часа, с 10-19 (Московское время), кроме воскресенья

Автореферат - бесплатно, доставка 10 минут, круглосуточно, без выходных и праздников

Дулов Олег Александрович. Методы и средства измерения шумовых и малосигнальных параметров мощных биполярных транзисторов для целей контроля их качества : диссертация ... кандидата технических наук : 05.11.01 / Дулов Олег Александрович; [Место защиты: Ульян. гос. техн. ун-т].- Ульяновск, 2008.- 169 с.: ил. РГБ ОД, 61 09-5/780

Введение к работе

Актуальность проблемы. Постоянное повышение требований к качеству и надежности радиоэлектронной аппаратуры (РЭА) определяет необходимость разработки и совершенствования методов и средств неразрушающего контроля (МНК) качества изделий электронной техники (ИЭТ). Задача разработки и повышения эффективности МНК состоит не только в установлении аналитической или корреляционной связи между дефектами прибора и информативным параметром, но и в определении оптимальных режимов измерения этого параметра.

За последнее десятилетие в работах Г.Б. Сердюка, Г.П. Жигальского, М.И. Горлова, А.В Якимова и др. активное развитие получили МНК ИЭТ по электрическим шумам и эффектам нелинейности. Интерес к этим методам обусловлен тем, что они достаточно универсальны и эффективны, поскольку шумы и нелинейности ВАХ присущи всем элементам и несут информацию о разнообразных дефектах. Эти методы получили широкое экспериментальное подтверждение на различных классах пассивных элементов: тонкопленочных резисторах, МДП-структурах, контактных соединениях и диодах Шоттки.

Особое место среди полупроводниковых приборов занимают мощные биполярные ВЧ и СВЧ-транзисторы. Они широко применяются в современной РЭА различного назначения и остаются при этом наименее надежными электронными компонентами, поскольку работают в жестких тепловых и электрических режимах. При этом предельные функциональные возможности и надежность даже бездефектных приборов, во многом определяются эффектами неоднородного, а при некоторых режимах, и неустойчивого распределения плотности тока, мощности и температуры в приборных структурах.

В работах А. Ван дер Зила, Мак - Уортера, Л.П. Карбы, Ю.С. Карпова, B.C. Пряникова, А.К. Нарышкина, В.М. Придорогина, А.А. Широкова и др. показано, что источником информации о качестве мощных биполярных транзисторов (МБТ) является собственный шум приборов. Однако, в указанных работах шумовые свойства МБТ рассматривались без учета конструкционно-топологических особенностей современных ВЧ и СВЧ транзисторов и эффектов неоднородного токораспре-деления в приборных структурах. Для повышения эффективности МНК по шумам необходимо сформулировать требования к измерительной аппаратуре и организации процесса измерения, позволяющие минимизировать погрешности измерения шумовых параметров с учетом того, что МБТ является активным и существенно нелинейным элементом, а при изменении режима измерения меняются и коэффициент усиления транзистора и параметры его эквивалентной шумовой схемы.

Методы и средства диагностики МБТ по эффектам нелинейности развиты в работах В.Л. Аронова, Б.С. Кернера, В.Ф. Синкевича, А.Н. Рабодзея, А.Я. Квурта, Н.Л. Миндлина, М.И. Горлова, D. Navon, D.L. Blackburn, F.F. Oettinger, О. Mueller и др. Косвенные методы оценки неоднородного токораспределения по эффектам нелинейности достаточно трудоемки. Автоматизированные методы имеют невысокую чувствительность и позволяют выявлять дефектные приборы лишь в режимах с резко неоднородным токораспределением, при которых изделие подвергается запредельным энергетическим воздействиям, что ограничивает применение этих методов в производственных условиях.

Цель и задачи исследования - повышение достоверности и эффективности не-разрушающего контроля качества мощных биполярных ВЧ и СВЧ транзисторов по шумовым и малосигнальным параметрам путем повышения точности и чувствительности методов и средств измерения указанных параметров.

Для достижения поставленной цели решались следующие задачи:

1. Определить предельные возможности повышения точности измерения па
раметров низкочастотного (НЧ) шума со спектром типа 1/ fY путем учета влияния

показателя в частотной зависимости спектра шума на методические погрешности измерения параметров НЧ шума.

  1. На основе синтеза двухсекционной эквивалентной шумовой схемы мощного биполярного ВЧ и СВЧ транзистора с учетом его конструкционно-топологических особенностей оценить влияние неоднородности токораспределения в структурах мощных биполярных ВЧ и СВЧ транзисторов на их шумовым характеристики.

  2. На основе анализа двухэлементной теплоэлектрической модели мощных биполярных ВЧ и СВЧ транзисторов с дефектами разработать способ и устройство автоматизированного контроля однородности токораспределения и температурной границы области безопасных режимов мощных биполярных ВЧ и СВЧ транзисторов по зависимости коэффициента внутренней обратной связи по напряжению hUE от коллекторного напряжения.

  3. По результатам ускоренных испытаний оценить эффективность отбраковки потенциально ненадежных мощных биполярных ВЧ и СВЧ транзисторов по шумовым и малосигнальным параметрам и разработать соответствующие методики.

Методы исследований. При решении поставленных задач использовались положения и методы теории электрических цепей, теории случайных процессов, теории погрешностей, физики полупроводников и полупроводниковых приборов, теории вероятности и математической статистики, а также численные методы с применением ЭВМ.

Научная новизна.

1. Впервые показано, что при измерении спектральной плотности мощности

НЧ шума со спектром типа 1/ fr методом непосредственной оценки существует

ширина полосы фильтра, при которой методическая погрешность измерения минимальна; при этом значение ширины полосы фильтра уменьшается, а минимальная методическая погрешность растет с увеличением показателя у.

  1. Впервые для расчета шумовых характеристик мощных ВЧ и СВЧ биполярных транзисторов с учетом эффектов неоднородного токораспределения предложена двухсекционная эквивалентная шумовая схема, позволяющая разделить источники шума пассивной и активной областей транзисторной структуры.

  2. Установлено, что отношение значений среднего квадрата шумового напряжения МБТ, измеренных при постоянном коллекторном напряжении и двух различных токах, пропорционально коэффициенту неоднородного токораспределения в транзисторной структуре.

  3. На основе двухэлементной теплоэлектрической модели МБТ с дефектами показано, что зависимость малосигнального коэффициента внутренней обратной связи по напряжению hUE от коллекторного напряжения имеет нелинейный характер, а крутизна этой зависимости пропорциональна величине дефекта.

Практическая ценность и реализация результатов работы.

  1. Предложены рекомендации по выбору режима измерения шумовых параметров мощных биполярных транзисторов и методики отбраковки дефектных МБТ по шумовым характеристикам.

  2. Разработаны и внедрены на промышленных предприятиях и научных учреждениях серия измерительных приборов, установок и устройств, а также соответствующие методики для контроля качества и отбраковки МБТ по шумовым и малосигнальным характеристикам:

установка для измерения теплофизических параметров мощных транзисторов УИТЭП внедрена на входном контроле п/я В-8828;

установка для контроля качества мощных транзисторов внедрена на Сарапуль-ском радиозаводе.

Результаты диссертационной работы используются в учебном процессе на радиотехническом факультете Ульяновского государственного технического университета при проведении занятий по дисциплинам «Устройства генерирования и формирования радиосигналов», «Основы метрологии и радиоизмерений» для студентов специальности «Радиотехника».

Апробация работы. Основные положения и результаты диссертационной работы докладывались и обсуждались на: Международной НТК «Актуальные проблемы электронного приборостроения» (Саратов, 1996); Всероссийской НТК «Современные проблемы проектирования и эксплуатации радиотехнических систем» (Ульяновск, 1998, 2001, 2007); VIII и IX Международных НТК «Оптические, радиоволновые и тепловые методы и средства контроля качества материалов, промышленных изделий и окружающей среды»(Ульяновск, 2000, 2004); Всероссийской НТК «Континуальные алгебраические логики, исчисления и нейроинформати-ка в науке и технике» (Ульяновск, 2004, 2006).

На защиту выносятся:

  1. Двухсекционная шумовая эквивалентная схема МБТ, учитывающая эффекты неоднородного токораспределения в приборных структурах.

  2. Расчетные формулы для оценки методической погрешности измерения шумовых параметров прямым методом и методом удвоения с учетом влияния показателя степени в частотной зависимости спектральной плотности НЧ шума.

  3. Модель и формулы для расчета неоднородности токораспределения в мощных ВЧ и СВЧ биполярных транзисторах с дефектами различной физической природы.

  4. Структурная схема устройства для контроля качества и температурной границы области безопасных режимов МБТ по зависимости малосигнального коэффициента обратной связи по напряжению кПБ от коллекторного напряжения.

  5. Результаты выборочных ускоренных испытаний и разработанные на этой основе методики отбраковки дефектных и потенциально ненадежных приборов.

Публикации. По теме диссертации опубликовано 31 научная работа, включая, 19 научных статей (4 в изданиях из перечня ВАК), 7 тезисов докладов на научно-технических конференциях и семинарах, 5 авторских свидетельств и патентов на изобретения.

Личный вклад автора. Основные научные результаты получены автором лично. Реализация ряда прикладных разработок и экспериментов осуществлялась с участием А.А. Широкова, сотрудников и студентов кафедр «Радиотехника» и «Радиотехника, опто- и наноэлектроника» УлГТУ. Работы по внедрению результатов исследований проводились при личном участии автора.

Структура и объем диссертации. Диссертация состоит из введения, пяти глав, заключения, списка литературы, включающего 145 наименований, четырех приложений. Общий объем диссертации составляет 169 страницы и содержит 9 таблиц и 70 рисунков.

Похожие диссертации на Методы и средства измерения шумовых и малосигнальных параметров мощных биполярных транзисторов для целей контроля их качества