Электронная библиотека диссертаций и авторефератов России
dslib.net
Библиотека диссертаций
Навигация
Каталог диссертаций России
Англоязычные диссертации
Диссертации бесплатно
Предстоящие защиты
Рецензии на автореферат
Отчисления авторам
Мой кабинет
Заказы: забрать, оплатить
Мой личный счет
Мой профиль
Мой авторский профиль
Подписки на рассылки



расширенный поиск

Информационно-экспертная система для исследования пространственной структуры тонких металлических пленок на наноуровне Федоров, Артур Григорьевич

Информационно-экспертная система для исследования пространственной структуры тонких металлических пленок на наноуровне
<
Информационно-экспертная система для исследования пространственной структуры тонких металлических пленок на наноуровне Информационно-экспертная система для исследования пространственной структуры тонких металлических пленок на наноуровне Информационно-экспертная система для исследования пространственной структуры тонких металлических пленок на наноуровне Информационно-экспертная система для исследования пространственной структуры тонких металлических пленок на наноуровне Информационно-экспертная система для исследования пространственной структуры тонких металлических пленок на наноуровне
>

Диссертация - 480 руб., доставка 10 минут, круглосуточно, без выходных и праздников

Автореферат - бесплатно, доставка 10 минут, круглосуточно, без выходных и праздников

Федоров, Артур Григорьевич. Информационно-экспертная система для исследования пространственной структуры тонких металлических пленок на наноуровне : диссертация ... кандидата технических наук : 05.13.01 / Федоров Артур Григорьевич; [Место защиты: С.-Петерб. гос. ун-т].- Санкт-Петербург, 2011.- 107 с.: ил. РГБ ОД, 61 12-5/1000

Введение к работе

Актуальность темы. В настоящее время во всем мире уделяется все возрастающее внимание исследованию и диагностике микро- и наноструктуры твердотельных объектов применительно к созданию новых полупроводниковых наноприборов, углеродных нанотрубок, металлов и сплавов, алмазных пленок, керамических материалов и приборов на их основе. Знание их строения на наноуровне, а также анализ различных параметров, включая границы раздела и электронные связи в кристаллических решетках, которые во многом определяют прочностные и электронные свойства получаемых новых материалов, влияет на прогнозирование и оценку эффективности и надежности твердотельных систем, на выбор технологии получения этих материалов, а так же на их применение в различных приборах.

Для исследования атомной структуры объекта применяются различные экспериментальные методы, среди них можно выделить метод дифракции медленных электронов, рентгеноструктурный анализ и некоторые др. Но не один из них не позволяет получать информацию о трехмерной (3D) структуре объектов.

Теория и практика исследования твердотельных структур на наноуровне требуют создания как экспериментальных, так и информационно-экспертных систем (ИЭС), позволяющих получать экспериментальную информацию и проводить экспертизу этих структур в пространственном представлении.

Проведенный нами анализ показал, что основой такой системы может стать электронно-голографический метод и созданная на его основе экспериментальная установка, которую можно назвать низкоэнергетическим проекционным электронным микроскопом (НПЭМ), являющаяся одним из модулей ИЭС.

В соответствии с требованиями, предъявляемыми к устройствам такого рода, установка должна включать:

1. источник монохроматического электронного пучка;

  1. прецизионную систему управления катодным блоком с энергией, гарантирующей неразрушение диагностируемого объекта диагностирующим пучком;

  2. чувствительную систему детектирования пучка, несущего информацию об исследуемом объекте.

Практически реализовать уникальные достоинства НПЭМ можно, если в качестве источника электронов использовать полевой металлический электронный катод (ПЭК) (см. рис. 1), при обязательном условии — проведении всех исследований в сверхвысоком вакууме, не хуже 5-Ю"9 мм.рт.ст. Важнейшим преимуществом этих катодов является то, что они позволяют получать, в отличие от широко применяемых термокатодов, монохроматические электронные пучки.

Рис. 1. Полевой электронный катод.

Неразрушающий контроль обеспечивается тогда, когда энергия электронного пучка не превышает 200 эВ. Это накладывает дополнительные требования к детектору для регистрации монохроматических лучей. Вследствие низкой энергии электронного пучка к детектору предъявляется требование усиления сигнала. В функции детектора должны также входить увеличение и отображение монохроматического луча в виде двумерного изображения.

Так как для реконструкции структуры необходимо специальное математическое и программное обеспечение, обязательным структурным элементом ИЭС должен быть информационный модуль.

Таким образом, задача разработки системы получения и обработки голографических изображений с целью исследования структур сложных твердотельных систем решается путем создания информационно-экспертной системы, состоящий из двух модулей: экспериментальной установки и информационного модуля, обеспечивающего оптимальное управление экспериментальной установкой, обработку экспериментальной информации, структурно-параметрический синтез и идентификацию структур твердотельных систем, оценку их качества и надежности, визуализацию, преобразование и анализ голографической структурной информации. Из сказанного выше следует, что тема диссертационной работы несомненно актуальна.

Цель работы заключалась в проведении теоретических и экспериментальных исследований системных связей и закономерностей процессов реконструкции твердотельных нано- и микроструктур на основе голографического метода исследования, направленных на повышение их эффективности с использованием современных методов обработки информации. Практическая реализация поставленной цели потребовала решения следующих взаимообусловленных и взаимодополняющих задач:

  1. анализ возможностей теоретического и экспериментального исследования трехмерной структуры нанопленок;

  2. выработка и реализация требований к экспериментальной установке исследования трехмерных наноструктур с помощью голографического метода;

  3. выработка и реализация требований к информационно-экспертной системе применительно к задачам получения и обработки голографической информации;

  4. исследование и разработка методов и алгоритмов структурно-параметрической идентификации, синтеза и анализа голографических изображений трехмерных наноструктур;

5. разработка компьютерных методов и алгоритмов визуализации, преобразования голографических изображений для анализа информации в 3D форме.

Методы исследования. Исследования проводились взаимодополняющими методами системного анализа, физического и математического моделирования, численного и натурного эксперимента.

Научная новизна работы состоит в том, что впервые была:

  1. предложена концепция построения и создания информационно-экспертной системы (ИЭС), проблемно-ориентированной на исследование 3D-структуры тонких пленок металла по их голографическим изображениям;

  2. разработана методика описания голографических изображений тонких металлических пленок;

  3. создано математическое и программное обеспечение, сочетающее в себе сбор, хранение, обработку и анализ экспериментальной информации, протестированное в ИЭС;

  4. практически реализована проблемно-ориентированная ИЭС и проведено ее тестирование.

Положения выносимые на защиту:

  1. концепция построения и создания информационно-экспертной системы, проблемно ориентированной на комплексное исследование тонких пленок металла по их голографическим изображениям;

  2. структура комплекса технических и программных средств для исследования трехмерных наноструктур на базе информационно-экспертной системы;

  3. метод описания голографических изображений объекта, представляющего тонкую пленку металла;

  4. алгоритмы реконструкции голографических изображений;

  5. математическое и программное обеспечение обработки и визуализации

голографической информации.

Практическая значимость работы заключается в том, что:

  1. разработана структура, обеспечивающая максимальную гибкость в создании, изменении и наладке специализированного программного обеспечения (ПО), реализующего программу исследований трехмерных наноструктур с помощью голографического метода на заданных технических средствах компьютерной системы. Создано компактное, эффективное ПО;

  2. разработанные алгоритмы и программы и адаптация существующего ПО позволяют эффективно использовать распространенные компьютерные средства для контроля состояния твердотельных наноструктур;

  3. выполнена реализация компьютерной системы обработки визуализированной и графической информации, включающей системные и обрабатывающие программы;

  4. разработана экспериментальная установка по получению голографических изображений объекта исследования.

Комплекс средств может быть использован как в научных исследованиях, так и в промышленности: для экспресс-анализа состояния материалов, непрерывного контроля состояния подложки и процесса нанесения активных и пассивных элементов микросхем и т.п.

Результаты работы были апробированы на:

  1. XLI международной научной конференции аспирантов и студентов «Процессы управления и устойчивость» (Санкт-Петербург, 2010);

  2. всероссийской конференции «Устойчивость и процессы управления», посвященной 80-летию со дня рождения проф., чл.-корр. РАН В. И. Зубова (1930-2000) (Санкт-Петербург, 2010);

  3. международной научной конференции STRANN-2011 (Санкт-Петербург 2011г.).

Опубликованные работы. По теме диссертации опубликовано 6 научных

работ [1-6].

Объем и структура диссертации. Диссертация изложена на 94 страницах, состоит из введения, четырех глав, заключения, списка литературы и приложений. Список литературы включает 44 наименования.

Похожие диссертации на Информационно-экспертная система для исследования пространственной структуры тонких металлических пленок на наноуровне