Электронная библиотека диссертаций и авторефератов России
dslib.net
Библиотека диссертаций
Навигация
Каталог диссертаций России
Англоязычные диссертации
Диссертации бесплатно
Предстоящие защиты
Рецензии на автореферат
Отчисления авторам
Мой кабинет
Заказы: забрать, оплатить
Мой личный счет
Мой профиль
Мой авторский профиль
Подписки на рассылки



расширенный поиск

Сегрегация, атомная структура и электронные свойства поверхности моно- и поликристаллов Cu-Ge Сергеев Игорь Николаевич

Сегрегация, атомная структура и электронные свойства поверхности моно- и поликристаллов Cu-Ge
<
Сегрегация, атомная структура и электронные свойства поверхности моно- и поликристаллов Cu-Ge Сегрегация, атомная структура и электронные свойства поверхности моно- и поликристаллов Cu-Ge Сегрегация, атомная структура и электронные свойства поверхности моно- и поликристаллов Cu-Ge Сегрегация, атомная структура и электронные свойства поверхности моно- и поликристаллов Cu-Ge Сегрегация, атомная структура и электронные свойства поверхности моно- и поликристаллов Cu-Ge Сегрегация, атомная структура и электронные свойства поверхности моно- и поликристаллов Cu-Ge Сегрегация, атомная структура и электронные свойства поверхности моно- и поликристаллов Cu-Ge Сегрегация, атомная структура и электронные свойства поверхности моно- и поликристаллов Cu-Ge Сегрегация, атомная структура и электронные свойства поверхности моно- и поликристаллов Cu-Ge
>

Диссертация - 480 руб., доставка 10 минут, круглосуточно, без выходных и праздников

Автореферат - бесплатно, доставка 10 минут, круглосуточно, без выходных и праздников

Сергеев Игорь Николаевич. Сегрегация, атомная структура и электронные свойства поверхности моно- и поликристаллов Cu-Ge : Дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.07 Нальчик, 2005 147 с. РГБ ОД, 61:06-1/1005

Содержание к диссертации

Введение 5

1. Исследования поверхности сплавов металл - элементарный
полупроводник методами ЭОС, ДМЭ и СХПЭЭ 10

  1. Поверхностная сегрегация и ее ориентационная зависимость 10

  2. Кинетика поверхностной сегрегации 12

  3. Электронные свойства поверхности 19

  4. Поверхностные фазы 23

Выводы из 1 главы 29

2. Аппаратура и методика исследования поверхности сплавов Cu-Ge 36

  1. Электронный спектрометр для комплексного исследования поверхности твердых тел 36

  2. Образцы монокристаллов Cu-Ge 40

2.2.1. Диаграмма состояния системы Cu-Ge 41

2.3. Методика исследований 44

  1. Подготовка атомарно-чистой поверхности 44

  2. Запись спектров Оже и ХПЭЭ 45

2.3.3i Учет матричных эффектов 46

  1. Равновесные условия 47

  2. Кинетические кривые 47

  3. Методика регистрации картин ДМЭ 48

Выводы из 2 главы 48

3. Экспериментальное изучение сегрегации и реконструкции
поверхности в сплавах Cu-Ge ,. 50

3.1. Температурная и ориентационная зависимости состава

поверхности сплавов Cu-Ge 50

3.1.1.Грань (111) сплава Си-2 ат. % Ge 51

  1. Грани (110), (111) и (100) сплава Си-6 ат. % Ge 52

  2. Толщина обогащенного слоя.... 55

  3. Поликристаллический сплав CuojsGe0,25 58

3.1.5f Коэффициент распределения германия 59

3.2. Упорядоченные структуры на поверхности сплавов Cu-Ge и

концентрационные интервалы их стабильности ;60

3.2.1. (11 \)Си-в ат. % Ge 60

3.2.2.(100)См-6 aT.%Ge 61

  1. (U0)Cu-6aT.%Ge 63

  2. (lll)Cw-2aT.%Ge 64

3.3. Влияние сегрегации на реконструкцию поверхности 65

Выводы из 3 главы 70

4. Исследование поверхности сплавов Cu-Ge методом СХПЭЭ 73

4.1. Характеристические потери энергии для грани (111)

чистых Си и Ge 74

4.2. Характеристические потери энергии для сингулярных граней

сплавов Cu-Ge 77

4.2.1. Интерпретация пиков ХПЭ для сплава Си-6 ат. % Ge 77

4.3. Температурная и ориентационная зависимости
характеристических потерь энергии для сплавов Cu-Ge 84

  1. Сингулярные грани сплава Си-6 ат. % Ge 84

  2. Сплав (111)Си-2 ат. % Ge 93

4.3.Зі Поликристаллический сплав Cu^Ge^ 97

4.4. Расчет электронной концентрации для поверхности

сплавов Cu-Ge по данным СХПЭЭ 102

4.4.1.Сплав(111)Си-2ат./ое 102

4.4.2. Сингулярные грани сплава Си-6 ат. % Ge 105

4.5. Распределение германия в приповерхностной области

сплава Cu-Ge по данным СХПЭЭ 107

4.6. Химические превращения на поверхности и их влияние

на характер сегрегации в сплавах Cu-Ge Ill

Выводы из 4 главы 113

5. Исследование кинетики поверхностной сегрегации
в монокристаллах Cu-Ge методами ЭОС и СХПЭЭ 116

5.1. Измерение временной зависимости поверхностного

состава методом ЭОС 116

5.2. Коэффициенты диффузии и энергия активации сегрегации

в сплавах Cu-Ge 121

  1. Электронные свойства поверхности и их временная зависимость при изотермическом отжиге 126

  2. Кинетика формирования германидов меди на сингулярных гранях сплава Си-6 ат. % Ge 130

Выводы из 5 главы 131

Выводы 133

Литература 135

ОСНОВНЫЕ ОБОЗНАЧЕНИЯ И СОКРАЩЕНИЯ

ЭОС - электронная оже-спектроскопия ДМЭ - дифракция медленных электронов

СХПЭЭ - спектроскопия характеристических потерь энергии электронов

СОРИНЭ - спектроскопия обратно рассеянных ионов низкой энергии РФЭС - рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия ВИМС - вторично-ионная масс-спектрометрия АСМ -< атомно-силовая микроскопия СТМ - сканирующая туннельная микроскопия Ер - энергия первичных электронов, падающих на образец 1Р — ток первичных электронов, падающих на образец ХСе - концентрация германия в объеме сплава

Хде - концентрация германия на поверхностности сплава Хе(Т) - температурная зависимость поверхностной концентрации германия

k=X(Qe /Хсе - коэффициент распределения германия Хсе(0 - зависимость поверхностной концентрации германия от времени отжига

Ьсо^е - энергия поверхностного плазмона германия bcoGpe - энергия объемного плазмона германия Тко^" - энергия поверхностного плазмона меди Ьсосри - энергия объемного плазмона меди

* 2D

псо - энергия плазмона поверхностного интерметаллида меди

Введение к работе

Актуальность темы

Поверхностная сегрегация в бинарных и многокомпонентных сплавах приводит к избирательной концентрации на поверхности отдельных компонентов, что сопровождается изменением многих свойств материалов. Знание поверхностных характеристик необходимо для решения широкого круга фундаментальных и прикладных задач, в частности, для определения работы адгезии, поиска эффективных модификаторов структур, разработки композиционных материалов и т.д. Эти данные позволяют выбирать виды и режимы воздействия на материалы для целенаправленного изменения их свойств и предсказывать изменения этих свойств со временем.

Для исследования физико-химических процессов в наноразмерных слоях на поверхности сплавов более всего подходят неразрушающие методы электронной оже-спектроскопии (ЭОС), спектроскопии характеристических потерь энергии электронов (СХПЭЭ) и дифракции медленных электронов (ДМЭ), позволяющие получать информацию на атомно-электронном уровне.

Интерес к изучению сплавов на основе меди обусловлен их важным технологическим значением. Особенно перспективны в этом отношении ультратонкие пленки на основе сплавов Cu-Ge, технологические свойства которых значительно улучшаются при взаимодействии компонентов с образованием германидов меди. Исследования последних лет в этом направлении привели к разработке новых низкорезистивных омических контактов к арсениду галлия и кремнию, систем металлизации высокотемпературных сверхпроводников, высокоадгезионных слоев и пассивирующих покрытий. Перераспределение компонентов и образование интерметаллидов в напыленных сплавах происходит в процессе отжига при формировании контактов, когда химический состав свободной и межфазных границ задается тер-мостимулированной сегрегацией. Изучение этих процессов "в чистом виде" на поверхностях с хорошо определенной кристаллографической ориентацией позволяет прояснить механизмы формирования полезных свойств медно-германиевых сплавов.

Цель работы

Цель настоящей работы состоит в получении новых данных о составе, структуре и электронных свойствах наноразмерных слоев на поверхности медно-германиевых сплавов в моно- и поликристаллическом состояниях, а также о влиянии на сегрегацию температуры, объемного состава, кристаллографической ориентации грани и поверхностных фазовых превращений методами электронной спектроскопии и дифракции медленных электронов. Для достижения указанной цели были поставлены и решены следующие задачи:

Модернизация и улучшение эксплуатационных характеристик электронного спектрометра для комплексного анализа наноразмерных поверхностных слоев методами низкоэнергетической электронной спектро- " скопии и дифракции медленных электронов.

Комплексное экспериментальное исследование методами ЭОС,. СХПЭЭ и ДМЭ состава, структуры и электронных свойств наноразмерных слоев, формирующихся в процессе термостимулированной сегрегации на поверхности медно-германиевых моно- и поликристаллов.

Исследование диффузионных процессов и кинетики формирования наноразмерных слоев на поверхности медно-германиевых сплавов.

Выяснение закономерностей физико-химических процессов, протекающих в наноразмерных слоях на поверхности сплавов Cu-Ge.

Научная новизна

В ходе выполнения работы получены следующие результаты, обладающие признаками научной новизны:

1. Впервые получены экспериментальные данные о составе, структуре и электронных свойствах наноразмерных слоев, формирующихся в про- цессе термостимулированной сегрегации на сингулярных гранях а-твердых растворов медь-германий с 2 и 6 ат. % Ge в объеме, а также о составе и электронных свойствах поверхности поликристаллического герма-нида меди Cu3Ge.

Экспериментально определены диффузионные характеристики и их температурная и ориентационная зависимости для приповерхностной области сингулярных граней а-твердого раствора медь-германий с 6 ат. % Ge в объеме.

Обнаружены двумерные германиды меди различного состава на поверхности медно-германиевых сплавов и определены кинетика и условия их формирования.

Установлено существование взаимосвязи поверхностной сегрегации и структурно-фазовых переходов в поверхностном слое медно-германиевых сплавов.

Практическая ценность работы

Данные о составе, атомно-электронной структуре и фазовых переходах в наноразмерных слоях, формирующихся при поверхностной сегрега- , ции, могут представлять интерес для наноэлектроники, нанотехнологии и создания наноматериалов. Новые данные о закономерностях поверхностной сегрегации могут быть использованы для построения теоретических моделей поверхности твердого тела.

Усовершенствованный электронный спектрометр применяется при выполнении научно-исследовательских работ и в учебном процессе на факультете микроэлектроники и компьютерных технологий Кабардино-Балкарского госуниверситета, в том числе в лабораторном практикуме, в научно-исследовательской работе аспирантов и магистрантов, а также при выполнении курсовых и выпускных квалификационных работ специалистов и магистров. Результаты исследований используются в курсе лекций по предмету «Методы анализа материалов и структур электроники».

На защиту выносятся:

Модернизация и улучшение эксплуатационных характеристик электронного спектрометра для комплексного анализа наноразмерных поверхностных слоев методами ЭОС, СХПЭЭ и ДМЭ.

Результаты экспериментального изучения состава, структуры и электронных свойств наноразмерных слоев, формирующихся в процессе термостимулированной сегрегации на сингулярных гранях ос-твердых растворов медь-германий с 2 и 6 ат. % Ge в объеме, а также состава и электронных свойств поверхности поликристаллического германида меди СщЄе.

Диффузионные характеристики и их температурная и ориентаци-онная зависимости для сингулярных граней а-твердого раствора медь-германий с 6 ат. % Ge в объеме.

Образование двумерных германидов меди различного состава на поверхности медно-германиевых сплавов, кинетика и условия их формирования.

Взаимовлияние сегрегации и структурно-фазовых переходов в поверхностном слое медно-германиевых сплавов.

Личный вклад автора

Диссертантом модернизирован электронный спектрометр, приготовлены образцы моно- и поликристаллических сплавов медь-германий и самостоятельно проведены все измерения методами ЭОС, СХПЭЭ и ДМЭ. В опубликованных статьях соавторам принадлежат примерно равные доли творческого участия. Выводы, сделанные в настоящей работе, принадлежат автору.

Апробация результатов

Основные результаты, полученные в работе, докладывались и обсуждались на следующих региональных всесоюзных, и международных научных конференциях: XX Всесоюзная конференция по эмиссионной элек- тронике (Киев, 1987); IV Всесоюзная конференция по взаимодействию излучения с твердым телом (The IV-th ALL-Union Conference on Interaction of Radiation with Solids, Москва, 1990); XI Всесоюзная конференция «Поверхностные явления в расплавах и технология новых материалов» (Киев, 11-13 июня 1991 г.); Всесоюзная научная конференция «Физика межфазных явлений и процессов взаимодействия потоков энергии с твердыми телами» (Нальчик, 1995); Региональная научная конференция, посвященная 85-летию С.Н. Задумкина «Физика межфазных явлений и процессов взаимодействия потоков частиц с твердыми телами» (Нальчик, 1998); Региональная конференция "Вакуумная электроника на Северном Кавказе" (Нальчик, 2001); Международный семинар «Теплофизические свойства вещества» (Нальчик, 2001); V Международная конференция «Химия твердого тела и современные микро- и нанотехнологии» (Кисловодск-Ставрополь, 2005).

Публикации

Основные результаты диссертации опубликованы в 8 статьях и тезисах 3 конференций, а также защищены 4 авторскими свидетельствами на изобретение.

Благодарности

Автор выражает глубокую благодарность научному руководителю профессору Шебзухову А.А. за постоянное внимание и интерес к данной работе, кандидату физико-математических наук Журтову З.М. за помощь при экспериментальных исследованиях, профессору Кармокову A.M. и доценту Гаеву Д.С. за полезные обсуждения и конструктивную критику. Особую благодарность автор выражает доценту Молоканову О.А. за неоценимую помощь при подготовке и оформлении диссертации.

Похожие диссертации на Сегрегация, атомная структура и электронные свойства поверхности моно- и поликристаллов Cu-Ge