Электронная библиотека диссертаций и авторефератов России
dslib.net
Библиотека диссертаций
Навигация
Каталог диссертаций России
Англоязычные диссертации
Диссертации бесплатно
Предстоящие защиты
Рецензии на автореферат
Отчисления авторам
Мой кабинет
Заказы: забрать, оплатить
Мой личный счет
Мой профиль
Мой авторский профиль
Подписки на рассылки



расширенный поиск

Разработка отдельных базовых процессов формирования активных областей силовых кремниевых транзисторов Шангереева Бийке Алиевна

Разработка отдельных базовых процессов формирования активных областей силовых кремниевых транзисторов
<
Разработка отдельных базовых процессов формирования активных областей силовых кремниевых транзисторов Разработка отдельных базовых процессов формирования активных областей силовых кремниевых транзисторов Разработка отдельных базовых процессов формирования активных областей силовых кремниевых транзисторов Разработка отдельных базовых процессов формирования активных областей силовых кремниевых транзисторов Разработка отдельных базовых процессов формирования активных областей силовых кремниевых транзисторов
>

Диссертация, - 480 руб., доставка 1-3 часа, с 10-19 (Московское время), кроме воскресенья

Автореферат - бесплатно, доставка 10 минут, круглосуточно, без выходных и праздников

Шангереева Бийке Алиевна. Разработка отдельных базовых процессов формирования активных областей силовых кремниевых транзисторов : диссертация ... кандидата технических наук : 05.27.01.- Махачкала, 2006.- 152 с.: ил. РГБ ОД, 61 06-5/2668

Введение к работе

Актуальность темы. Прогресс большинства областей современной электронной техники неразрывно связан с успехами силовой электроники. Активными элементами силовой электроники являются силовые полупроводниковые приборы, работающие в ключевом режиме и применяющиеся в различных видах преобразовательной техники: диоды, тиристоры, биполярные и МДП-транзисторы, транзисторы с изолированным затвором.

Важнейшей проблемой стоящей перед современной полупроводниковой электроникой является широкая и полная автоматизация производства с внедрением автоматических систем управления технологическими процессами. Задачи и вопросы повышения эффективности любого производства всегда были и будут в центре внимания всех, кто занимается его организацией. При производстве изделий микроэлектроники снижение затрат на него и повышение качества изделий особенно важны, так как они закладывают качественную и стоимостную основу будущих электронных устройств, которые сегодня во многом определяют уровень жизни общества. В то же время эти задачи далеко не просты, так как в основе производства изделий электронной техники лежит сложная технология, требующая высокого уровня ее реализации и больших затрат. Повышение эффективности этого производства путем его автоматизации также затруднено из-за сложной многооперационной технологии.

Исследования, проводимые в последние годы, в области технологии полупроводникового производства обусловлены необходимостью поиска оптимальных материалов, технологических методов и режимов обработки изделий, а также разработки специального технологического оборудования, обеспечивающего снижение разброса технологических параметров приборов.

В связи с этим комплексный подход к решению проблемных задач изготовления силовых транзисторных структур высокого качества с минимальными производственными затратами и разбросами технологических параметров является актуальнъэд^ НАЦИОНАЛЬНАЯ*

БИБЛИОТЕКА С.-Петербург -ОЭ 200 4ikt'J ^

Цель работы. Совершенствование отдельных базовых технологических процессов формирования активных областей силовых кремниевых транзисторов для улучшения параметров и повышения процента выхода годных.

Для достижения поставленной цели в работе необходимо было решить следующие задачи:

1) анализ существующих технологических методов формирования
кристаллов силовых полупроводниковых приборов, особенно
стей планарной технологии и технологических требований,
предъявляемых к производству кристаллов транзисторов;

2) разработка и оптимизация математических моделей техноло
гических процессов очистки полупроводниковых пластин,
глубокой диффузии фосфора с применением твердого пла-
нарного источника и пирогенного окисления;

3) исследование технологических процессов формирования ак
тивных областей силовых кремниевых транзисторов: очистка
кремниевых пластин, глубокая диффузия фосфора с введени
ем водяных паров, пирогенное окисление.

Новизна и научная ценность. Разработан новый метод очистки поверхности силовых кремниевых структур, путем введения в состав отмывочных ванн стоп-ванны с душевой отмывкой, которая позволяет эффективно очистить поверхность кремниевых пластин за счет:

эффективного смывания загрязнений с поверхности кремниевой структуры деионизованной водой, потоком направленной под определенным углом и давлением на кассету с пластинами.

сброса деионизованной воды, исключающего повторное оседание остатков реагента, частиц на поверхность полупроводниковой пластины.

Разработан алгоритм математической модели технологического процесса очистки кремниевых пластин в стоп-ванне с душевой отмывкой, с учетом влияние входных параметров процесса (давление и угол подачи деионизованной воды, диаметр отверстий) на основе решения уравнений переноса примеси по поверхности полупроводниковой пластины и уравнений гидродинамики.

Получены зависимости сопротивления деионизованной воды от количества циклов отмывки в стоп-ванне при различных углах наклона струи, зависимость константы равновесия от времени очистки.

Разработан алгоритм математической модели технологического процесса глубокой диффузии фосфора с твердого планарного источника (ТЛИ), учитывающий граничные условия: рабочая температура, расходы газов, температура источника диффузанта, изменение концентрации диффузанта в потоке.

Разработана модель процесса пирогенного окисления, с учетом поверхностной концентрации окислителя, значения эффективного коэффициента диффузии, коэффициента диффузии кислорода.

Практическая ценность работы. Разработанный метод очистки кремниевых пластин может быть использован при изготовлении силовых транзисторов с заданными параметрами. Результаты исследований глубокой диффузии фосфора из твердотельного планарного источника при непосредственном участии автором внедрены в производство мощных транзисторов на ОАО «Эльдаг».

В целом результаты исследований могут найти практическое применение на предприятиях НПО «Интеграл», ЗАО «ФЗМТ» и т.д.

Материалы диссертационной работы также внедрены в учебный процесс Дагестанского государственного технического университета.

Результаты внедрения оформлены соответствующими актами внедрения.

На защиту выносятся:

  1. Результаты исследования по очистки поверхности кремниевых пластин, за счет введения в состав отмывочных ванн стоп-ванны с душевой отмывкой.

  2. Результаты исследования, отдельных базовых технологических процессов формирования активных областей силовых кремниевых транзисторов.

  3. Результаты технологических режимов глубокой диффузии фосфора с применением твердого планарного источника.

4. Результаты исследования, технологических режимов получения окисла кремния методом пирогенного окисления и контроля качества окисных пленок.

Апробация результатов. Основные результаты диссертации докладывались и обсуждались:

на научно-технической конференции преподавателей, сотрудников, аспирантов и студентов ДГТУ. Махачкала, 2003г.;

на Всероссийской НТК «Современные информационные технологии в управлении» ДГТУ. Махачкала, октябрь 2003г.;

на Всероссийской НТК «Состояние и перспективы развития термоэлектрического приборостроения» ДГТУ. Махачкала, декабрь 2003 г.;

на Международной НТК «Измерение, контроль, информатизация», АГТУ им. И.И. Ползунова (г. Барнаул, 2004 г.).

Публикации. Основные результаты диссертационной работы опубликованы в 13 печатных работах.

Структура и объем диссертации. Диссертация состоит из введения, 4 глав, выводов, заключения и списка литературы. Объем работы составляет 148 страниц, в том числе 22 рисунка, 9 таблиц и приложения. Список цитированной литературы включает 133 наименований.

Похожие диссертации на Разработка отдельных базовых процессов формирования активных областей силовых кремниевых транзисторов