Электронная библиотека диссертаций и авторефератов России
dslib.net
Библиотека диссертаций
Навигация
Каталог диссертаций России
Англоязычные диссертации
Диссертации бесплатно
Предстоящие защиты
Рецензии на автореферат
Отчисления авторам
Мой кабинет
Заказы: забрать, оплатить
Мой личный счет
Мой профиль
Мой авторский профиль
Подписки на рассылки



расширенный поиск

Исследование трехслойных полупроводниковых структур и сверхрешеток методом рентгеновской интерференционной топографии Федоров Алексей Алексеевич

Исследование трехслойных полупроводниковых структур и сверхрешеток методом рентгеновской интерференционной топографии
<
Исследование трехслойных полупроводниковых структур и сверхрешеток методом рентгеновской интерференционной топографии Исследование трехслойных полупроводниковых структур и сверхрешеток методом рентгеновской интерференционной топографии Исследование трехслойных полупроводниковых структур и сверхрешеток методом рентгеновской интерференционной топографии Исследование трехслойных полупроводниковых структур и сверхрешеток методом рентгеновской интерференционной топографии Исследование трехслойных полупроводниковых структур и сверхрешеток методом рентгеновской интерференционной топографии
>

Данный автореферат диссертации должен поступить в библиотеки в ближайшее время
Уведомить о поступлении

Диссертация, - 480 руб., доставка 1-3 часа, с 10-19 (Московское время), кроме воскресенья

Автореферат - 240 руб., доставка 1-3 часа, с 10-19 (Московское время), кроме воскресенья

Федоров Алексей Алексеевич. Исследование трехслойных полупроводниковых структур и сверхрешеток методом рентгеновской интерференционной топографии : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.07.- Новосибирск, 2002.- 172 с.: ил. РГБ ОД, 61 03-1/931-6

Похожие диссертации на Исследование трехслойных полупроводниковых структур и сверхрешеток методом рентгеновской интерференционной топографии