Содержание к диссертации
Введение
Глава первая. Механизм возникновения муаровых картин и их классификация 6
1. Интерференционные муаровые картины рентгеновских лучей 7
2. Обзразование рентгеновских муаровых картин в трехблочных интерферометрах по Лауэ II
3, Образование рентгеновских муаровых картин в двухблочных интерферометрах 29
4. Динамический муаровый эффект 35
ГЛАВА ВТОРАЯ. Полосы смещения рентгеновских лучей, возникающие в двухкристальных PAX 40
1. Краткий обзор литературы 41
2. Рентгеноинтерференционные картины, образованные в двухблочных кристаллических системах . 43
3. Зависимость периодов полос смещения от номера полосы, ширины недифрагирущей зоны, толщин блоков, длины волны и порядка отражения 49
4. Расстояние между пучками, дифрагирован ными в направлениях падения и отражения, в зависимости от ширины падающего пучка и толщины кристалла 55
5. Экспериментальное исследование структуры полос смещения в зависимости от толщин блоков, ширины, формы и ориентации недифрагирующей зоны 63
6. Исследование структуры полос смещения в зависимости от межплоскостного расстояния, порядка отражения и длины волны 79
7. Зависимость периода полос смещения рентгеновских волн от асимметричности отражения 82
ГЛАВА ТРЕТЬЯ. Интерференционные картины, возникающие в двухкристальных интерферометрах с разными мжшгоскостными расстояниям 89
1. Плосковолновое приближение 90
2. Приближение сферической волны 96
3. Зависимость периода муаровых картин от направления падения первичной волны 100
ГЛАВА ЧЕТВЕРТАЯ. Возникновение и преобразование маятниковых полос рентгеновских волн 103
1. Маятниковое распределение интенсивности рентгеновских волн в кристаллах в двумодном приближении в зависимости от параметров первичного падающего пучка 105
2. Анализ известных экспериментальных данных 114
3. Экспериментальное исследование некоторых вопросов маятникового распреде ления интенсивности 119
Глава Пятая . вопросы фокусировки рентгеновских лучей 129
1. Фокусировка рентгеновских лучей с помощью полного внутреннего /внешнего/ и зеркального отражений 129
2 Фокусирующий монохроматор с полным внутренним отражением 133
3. Дифракционная фокусировка рентгенов ского излучения 134
4. Экспериментальное исследование контраста фокусированных линий в двухблочных системах в зависимости от разности толщин кристаллических пластин 146
Основные выводы диссертационной работы 149
Литература 152
- Обзразование рентгеновских муаровых картин в трехблочных интерферометрах по Лауэ II
- Рентгеноинтерференционные картины, образованные в двухблочных кристаллических системах .
- Зависимость периода муаровых картин от направления падения первичной волны
- Фокусирующий монохроматор с полным внутренним отражением
Введение к работе
В пятидесятых годах, как только создались условия для экспериментальной проверки теоретических выводов динамического рассеяния рентгеновских лучей в кристаллах /выращивание совершенных полупроводниковых кристаллов и разработка прецизионных гониометрических методов/, начались интенсивные теоретические и экспериментальные исследования динамического рассеяния рентгеновских лучей,
В процессе бурного развития теоретических и экспериментальных исследований был открыт ряд интересных эффектов динамического рассеяния рентгеновских лучей.
Однако не всегда уделялось должное внимание детальному и всестороннему исследованию известных эффектов. Между тем, для глубокого понимания физики рассеяния рентгеновских лучей и эффективного применения известных закономерностей динамического рассеяния, наряду с исследованиями с целью обнаружения новых эффектов, необходимо произвести более детальное исследование уже известных и уточнить наши представления об условиях их возникновения и наблюдения.
Не все вышеуказанные эффекты интерпретируются однозначно и не всегда они исследуются во взаимосвязи.
Поэтому более детальное исследование эффектов динамического рассеяния рентгеновских лучей имеет не только важное научное, но и большое народно-хозяйственное значение. Действительно, такие исследования не только способствуют уточнению и развитию динамической теории рассеяния рентгеновских лучей, но и дают практические рекомендации для более целесообразного использования динамических эффектов в рентгенографической диагностике несовершенства полупроводниковых приборов.
В диссертации рассмотрены следующие эффекты динамического рассеяния рентгеновских лучей: I/ механизм возникновения муаровых картин рентгеновских лучей в
двухблочных и трехблочных интерферометрах, 2/ механизм возникновения и наблюдения полос смещения рентгеновских лучей в двухблочных интерферометрах, 3/ интерференционные картины, возникающие в двух кристальном интерферометре с разными межплоскостными расстояниями блоков, 4/ возникновение и преобразование маятниковых полос рентгеновских лучей в кристаллах, 5/ вопросы фокусировки рентгеновских лучей.
В диссертации сделано отступление от традиционного включения первой главы литературного обзора. Каждую: главу снабдили своим кратким обзором.
Актуальность темы обусловлена актуальностью проблемы организации рентгенографической диагностики несовершенств кристаллов, применяемых в электронной промышленности. Для однозначной интерпретации рентгенодифракционных изображений дефектов в кристаллах и их влияния на физические свойства кристаллов очень важно исследование эффектов динамического рассеяния рентгеновских лучей в зависимости от условий эксперимента /параметров первичного пучка/ и степени совершенства исследуемых кристаллов.
Впервые показано, что поворотами отражающих плоскостей вокруг оси, лежащей в плоскости падения перпендикулярно к вектору обратной решетки, и вокруг оси, перпендикулярной к плоскости падения, обусловлены разные муаровые эффекты.
Детально исследованы период и направление полос смещения в зависимости от толщин блоков, ширины, формы и ориентации не дифрагирующей зоны, длины волны, семейства отражающих плоскостей, порядка и асимметричности отражения.
Впервые показано, что период дилатационных муаровых картин зависит от знака разности межплоскостных расстояний семейств отражающих плоскостей, от которых получаются эти муаровые картины.
Детально рассмотрен вопрос зависимости формы маятниковых полос от параметров первичного пучка и показано, что направление вершин V -образных маятниковых полос зависит от расстояния точечного источника от исследуемого кристалла.
Теоретически обосновано и экспериментально показано, что для получения большого разрешения дифракционных фокусных линий в двухкристальной системе необходимо учесть расстояние точечного источника от первого кристалла и ширину падающего пучка на поверхности входа первого кристалла и что эта фокусировка обусловлена краевым эффектом.
Полученные результаты дают возможность однозначно определить оси поворотов отражающих плоскостей, ввести корректировки в представления о механизме возникновения и преобразования маятниковых полос и полос смещения, что имеет важное прикладное значение для рентгенографической диагностики несовершенств кристаллов, применяемых в науке и производстве полупроводниковых приборов. Способ повышения разрешения дифракционных фокусных линий в двухкристаль-ных системах имеет важное применение в рентгеновской спектроскопии. Способ получения в поляризованных пучков очень актуален для рентгенографических исследований в зависимости от поляризации первичного падающего пучка.
Цель работы - теоретическое и более детальное экспериментальное исследование некоторых эффектов динамического рассеяния рентгеновских лучей /маятниковые полосы, полосы смещения, муаровый эффект, краевой эффект и дифракционная фокусировка/ с целью повышения однозначности интерпретации рентгенодифракционных изображений дефектов в кристаллах и разработки новых прецизионных методов исследования несовершенств кристаллов. На защиту выносятся следующие положения:
- механизм возникновения муаровых картин в двухкристальных и трехкристальных системах в зависимости от местоположения дила-тационных и ротационных несовершенств.
- Образование и классификация полос смещения в двухкристальных интерферометрах: результаты теоретических и экспериментальных исследований периодов и форм полос в зависимости от различных параметров кристаллической системы /бикристалла/ и первичного падающего пучка рентгеновских лучей.
- Методика определения знака разности межплоскостных расстояний в двухкристальных интерферометрах при сферической падающей волне /определение типа дилатационного несовершенства/.
- Возникновение маятникового распределения интенсивности в кристаллах и вне кристаллов в зависимости от параметров первичного пучка.
- Условия получения большого разрешения спектральных линий, фокусированных в двухблочных кристаллических системах.
- Методика получения Є поляризованного рентгеновского излучения.
Обзразование рентгеновских муаровых картин в трехблочных интерферометрах по Лауэ II
Для получения выражения более точного, чем /17/, надо было учесть, что в рассматриваемом случае меняется и направление бис — — сектрисы угла между векторами К и Кх , что в свою очередь приводит к появлению муаровых картин. Надо было учесть и то, что здесь меняется только направление вектора К » поэтому точка пересечения векторов К и Кх может не находиться точно на входной поверхности третьего блока, вследствие чего контраст интерференционной картины уменьшается. Однако учет этих обстоятельств заметно не меняет общую картину муарового эффекта.
Пусть отражающие плоскости четвертого блока повернуты относительно отражающих плоскостей остальных блоков на угол 6 вокруг оси, лежащей в плоскости падения первого блока перпендикулярно к вектору обратной решетки. Данная ситуация отличается от изложенной в пункте 6 тем, что там из плоскости падения первого блока выходят оба вектора К и Kt , а здесь - только вектор Кд . Точка пере - 26 x сечения лучей, выходящих из одной точки выходной поверхности первого блока, также не расположена на входной поверхности третьего блока: такая система не может работать как интерферометр.
Перейдем к рассмотрению роли первого блока трехблочного интерферометра в образовании муаровых картин,
Пусть межплоскостное расстояние отражающих плоскостей первого блока трехблочного интерферометра отличается от межплос костных расстояний остальных блоков /рисЛО/, но все блоки строго параллельны. Так как угол между векторами К4 и Кл равен углу между векторами К и К[ , то период распределения интенсивности падающих волн на входной поверхности третьего блока равен межплос костному расстоянию первого блока Лр = СЦ , тогда для периода муа ровых полос получим .4 A d а, d_ /18/
Рассмотрим случай, когда отражающие плоскости первого блока повернуты относительно отражающих плоскостей второго и треть его блоков вокруг оси,, перпендикулярной к плоскости падения, но межплоскостные расстояния всех блоков одинаковые /рис.II/. В этом случае для нахождения максимального отражения первого блока пово рачивают падающий пучок, так что векторы \{\ и К меняют свои на правления только на угол 6 , что передается и векторам К и Ка . РисЛО. Межплоскостное расстояние d первого блока отличается от межплоскостных расстояний 4 остальных блоков.
Тогда с помощью /6/ можно убедиться, что период распределения интенсивности падающих волн на входной поверхности третьего блока равен межшюскостному расстоянию. Однако здесь плоскости максимальных интенсивностей по направлению не совпадают с отражающими плоскостями - биссектриса угла между векторами К., и Кхне совпадает с направлением отражающих плоскостей. Повторяя рассуждения второго пункта, для периода муаровых полос в данном случае получим НАЛ 12. Наконец, рассмотрим случай, когда отражающие плоскости первого блока трехблочного интерферометра повернуты на угол б вокруг оси, лежащей в плоскости падения перпендикулярно к вектору обратной решетки. Чтобы падающий пучок составил угол Вульфа-Брэг га 9 с повернутыми на угол 6 плоскостями, он должен с нормалью к входной поверхности первого блока составить угол &{ , удовлетво условию . л с /20/ 5ІИ 6 - SIR ft, COS 6 .
Дифрагированный в первом блоке пучок распространится вверх или вниз от плоскости падения системы /системы без поворотов плоскостей/ в зависимости от направления поворотов. Пучок, дифрагированный в первом блоке в направлении падающего пучка /падающий
Отражающие плоскости первого блока повернуты на угол 6 вокрут оси, перпендикулярной к плоскости падения. пучок расположен в плоскости падения системы без поворотов отражающих плоскостей первого блока/, остается в плоскости падения и после отражения от плоскостей второго блока и в этой же плоскости падает на третий блок. Пучок, дифрагированный в направлении отражения, остается вне плоскости падения и после отражения от плоскостей второго блока. Таким образом, в таком интерферометре лучи, выходящие из одной точки выходной поверхности первого блока не соберутся в одной точке входной поверхности третьего блока. По-видд мому, такая кристаллическая система не может работать в качестве интерферометра: от такой системы не получится муаровая картина.
Мы здесь рассмотрели одинарные нарушения /изменения межплоскостных расстояний или повороты отражающих плоскостей/ в отдельных блоках трехблочного интерферометра, приводящие к образованию муаровых картин. Случай наличия одновременных нарушений разных типов в одном и в разных блоках /комбинированные нарушения/ можно исследовать на основании вышеприведенных рассуждений.
В заключении этого параграфа сделаем следующие замечания.
В пунктах 6 и 12 было отмечено, что когда отражающие плоскости первого блока повернуты на угол вокруг оси, лежащей в плоскости падения перпендикулярно к вектору обратной решетки, видимо, такой интерферометр не будет работать, однако это верно только в том случае, когда волны, дифрагированные в первом блоке в направлениях падения и отражения, на входной поверхности третьего блока не налагаются друг на друга. Ясно, что при очень малых поворотах наложение этих волн произойдет и интерференционная картина получится - интерферометр работает. В этом случае разность волновых векторов ( Kj - 10 ) будет перпендикулярна к плоскости рассеяния, а плоскости муаровых распределений получаются перпендикулярными к отражающим плоскостям и параллельными плос - 29 кости рассеяния.
Оценим чувствительность муарового метода определения разностей межплоскостных расстояних.
Как видно из /10/, чем меньше отличаются межплоскостные расстояния d и d,, , тем больше период муаровых картин и тем больше разрешение метода. С увеличением же разности d - d , период муаровых картин и, следовательно, разрешение уменьшаются. На первый взгляд кажется, что разрешение не имеет предела со стороны малых разностей Ad . Однако необходимо иметь ввиду, что Д d из экспериментальных данных ножно определить только в том случае, когда на поперечном сечении дифрагированного пучка число муаровых полос не меньше двух, следовательно, период муаровых полос не должен быть больше поперечного сечения дифрагированного пучка.
Рентгеноинтерференционные картины, образованные в двухблочных кристаллических системах .
Исследованиям муаровых картин, образованных в двухблочных кристаллических системах, посвящено мало работ [2,29-33]. Механизм возникновения этих муаровых картин детально не исследован, они не классифицированы, не исследован детально период этих картин в зависимости от параметров кристаллической системы и падающего пучка.
По-видимому, исследование муаровых картин, образованных в кристаллической системе, состоящей из двух близко расположенных друг к другу блоков, начато в связи с рентгенографическим изуче - 42 ниєм дефектов упаковки и деформированных областей вокруг дислокаций [34-57].
В работе [29] рассмотрена дифракция рентгеновских лучей в кристалле, содержащем недифрагирующую зону. На основании динамической теории рассеяния рентгеновских лучей были рассчитаны форма и интенсивность интерференционных полос, обнаруженных на топо-граммах, полученных от кристаллов, содержащих недифрагирующую зону. Авторы этой работы различают два типа полос: тип полос, не зависящих от ширины зазора и похожих на полосы дефектов упаковки, и тип полос, характерных для зазора /недифрагирующей зоны/, форма которых зависит от ширины зазора. Показано, что среди интерференционных систем, полученных от таких кристаллов, некоторые полосы высокой контрастности существуют даже в поглощающих кристаллах.
В работе [2] рассмотрены муаровые топограммы несоответствия между решетками двух кристаллов. Показано, что с помощью муаровых картин, полученных от двух кристаллов, могут быть измерены решеточные смещения и повороты, вызванные дислокациями и другими дефектами с точностью до 10 & и 10 рад., соответственно. Тщательно исследованы несовершенства различных кристаллических образцов кварца. Исследованы образцы как природного кварца, так и искусственного, и рассмотрена зависимость плотности распределения дислокаций от кристаллических направлений.
В работе [ЗО] рассмотрена дифракция рентгеновских лучей на двухкристальной системе, состоящей из толстой и тонкой частей, отделенных трансляцией без деформации. Развитую ими для этой системы плосковолновую теорию они применили для расчета рентгеновских дифракционных топограмм, полученных от некоторых кристаллов кремния, бомбордированных моноэнергетическими ионами. По заявлению авторов, эта простая модель и теория дифракции плоской волны очень хорошо описывают контраст и геометрию полос, полученных от этих кристаллов.
В работе [31] дифракционные полосы, образованные в кристалле, содержащем недифрагирующую зону, использованы для абсолютного измерения структурных факторов кристаллов кремния для отражения 220 . По утверждениям авторов, применение этого нового динамического интерференционного метода для измерения структурных факторов дает результаты, хорошо совпадающие с предыдущими результатами авторов, полученными с использованием метода маятниковых полос.
В работе [32] обсуждается вопрос улучшения видимости полос смещения с использованием коллимации первичного пучка с помощью асимметричного отражения от кристалла. Обсуждается также вопрос пространственной когерентности рентгеновского пучка, образовавшегося в результате асимметричного отражения от кристалла. В обсуждении отмечаются три преимущества использования коллимации асимметричным отражением: высокая видимость муаровых полос, большая допустимая ширина недифрагиругощей зоны и короткая экспозиция фотопластинок.
В работе [33] сферическая волновая теория Като применяется для вычисления интенсивности муаровых полос /полос смещения/, полученных от двух параллельных и одновременно отражающих кристаллов, отделенных недифрагиругощей зоной, когда учитываются только аномально прошедшие волны.
Рентгеноинтерференционные картины, образованные в двухблочных кристаллических системах
Рентгеноинтерференционные картины, полученные в результате рассеяния рентгеновских лучей в кристаллических системах, состоя 44 « щих из двух параллельно.расположенных одинаковых кристаллов, можно разбить на две группы: первая группа - картины, полученные от систем, состоящих из двух кристаллов, расстояние между которыми меньше, чем толщина первого кристалла /рис.16/; вторая группа -картины, полученные от систем, состоящих из двух кристаллов, расстояние между которыми больше, чем толщина первого кристалла /рис.17/.
Зависимость периода муаровых картин от направления падения первичной волны
Исследуем графически образование муаровых картин в двухблоч-ном интерферометре: найдем расположение волновых векторов в первом кристалле, между первым и вторым кристаллами, во втором кристалле и за интерферометром /за системой/ для двух случаев падения /справа и слева, рис,49/.
Допустим, плоская волна с амплитудой X L и волновым вектором Kj; падает на первый кристалл под углом Вульфа-Брэгга симметрич -ного Лауэ-отражения. Мы предполагаем, что кристаллы интерферометр ра толстые и первые поля в них полностью поглощаются[б]. Предположим также, что d СІди Дс1 0. Тогда расположение волновых векторов в первом кристалле такое, как представлено на рис.50, а расположение волновых векторов KV и К ц между первым и вторым кристаллами показано на рис.51.
При построении графика расположения волновых векторов во втором кристалле мы должны иметь ввиду, что величина вектора обратной решетки отражающих плоскостей второго кристалла меньше, чем величина вектора обратной решетки первого кристалла / с!л d , O H-i 04Нд. » рис. Для нахождения точек распространения во втором кристалле мы должны найти точки падения Сх и илиста этих точек падения провести нормали // и 7VA к поверхности входа второго кристалла. Точки пересечения Л5 и Л к этих нормалей с дисперсионной поверхностью будут точками распространения во втором кристалле.
Для нахождения точек падения ІІ .и \1Х необходимо провести из точек Од. и HJL обратной решетки волновые векторы 0Х\1 \\ К А и Н U1- II К 4 До пересечения со сферами падения SA \ и ВА .
Как видно из рис.52, в направлении точки Од распространяются волны с волновыми векторами Коои Ки, первая из которых возбуждена волной К Л в направлении падения, а вторая волной К в направлении отражения. В направлении Нд распространяются ККо и "К . , первая из которых возбуждена волной К в направлении па- дения, а вторая - веяной К в направлении отражения. Волны,распространяющиеся как в направлений падения, так и в направлении отражения, составляют между собой угол /возникает муаровое рас-пределение интенсивности , величина которого определяется расстоянием АъЛц чем больше это расстояние, тем меньше период муарового распределения интенсивности внутри кристалла. Ot 0г Ц N N, Нг Н, К"" и vt». . в результате наложения этих волн вне интерферомет Км kb
Теперь перейдем к исследованию расположения волновых векторов вне интерферометра. Для этого мы должны из точек распространения -А І и -гЦ провести нормали к выходной поверхности второго кристалла. Эти нормали совпадут с нормалями JVA и Nx к входной поверхности, так как все поверхности двухкристального интерферометра параллельны друт другу. Б рассматриваемом случае рис.50 и 51 примут вид, показанный на рис.54 и 55.
Найдем расположение волновых векторов в первом кристалле. Для этого мы должны через точки 0.( и И 4 провести волновые векто ры параллельно векторам К и К\1 /рис.55/ до пересечения их со сферами падения н и х первого кристалла /рис.ббД
Для нахождения расположения волновых векторов за первым кристаллом необходимо из точек распространения Яъж Яkпровести нормали к первой поверхности первого кристалла /поверхность вы хода, когда первичная волна падает на второй кристалл/. Эти нор мали к поверхности выхода совпадут с нормалями // и Nx к поверхности входа, и расположение волновых векторов за первым кристал лом примет вид, показанный на рис.57. Как видно из рис.57, в направлениях точек O.J и Ці обратной решетки распространяются две волны: в направлений 04 распространяются волны Коь и К01,,ав направлении И - волны К и Ккц # Первые два вектора отсекают от окружности падения дугу ]1J, \!\ , а последние два -
. Нетрудно убедиться в том, что эти дуги меньше, чем аналогичные дуги li lif и [ЦІ Ц\ , показанные на рис.53. Действительно, в случае, когда первичная волна падает на первый кристалл, расстояние между центрами сфер падения 0ДНЛ/рис.53/ меньше, чем аналогичное расстояние между центрами сфер падения О А №л -при падении первичной волны на второй кристалл /рис.57/.
Фокусирующий монохроматор с полным внутренним отражением
Опыты проводились для излучения Mo КоС , расстояние между кристаллами 350 мкм, толщина каждого кристалла 0,5 см. Секционные топограммы были сняты на камерах КРС. Фотоснимки секционных топограмм приведены на рис.59.
Сделано качественное сравнение. Первые и последние топограммы, показанные на рис./а/ и /б/, получены при комнатной температуре. Остальные топограммы получены при постепенном увеличении температуры отдельных кристаллов. Под топограммами приведены значения силы электрического тока в нагревателе. Увеличение силы тока приводит к увеличению температуры кристалла.
Из этих снимков видно, что: - при нагревании первого кристалла период муаровых картин увеличивается, а при нагревании второго кристал- ла -уменьшается; - после нагревания /нулевой ток в нагревателе/ периоды муаровых полос принимают исходные значения /см первые и последние топограммы на рис.59а,б/; - при высоких температурах /большие токи в нагревателе/ сначала муаровые полосы искажаются /сказывается температурный градиент/, а потом они исчезают.
Таким образом, наши опыты /в соответствии с теоретическими расчетами/ показывают, что период муаровых полос зависит от знака разности межплоскостных расстояний. Аналогичные результаты были получены и в том случае, когда при нагревании одного и того же кристалла менялось направление падения первичного пучка рентгеновских лучей.
На основании полученного результата подана заявка на изобретение.. Маятниковое явление рентгеновских волн впервые предсказал Эвальд [42] в 1917 году. Экспериментальное обнаружение этого яв ления затруднялось отсутствием соответствующей техники и почти идеальных /мало искаженных/ кристаллов» Поэтому только в 1959 го ду Като и Лангу [43] удалось наблюдать V -образные полосы, кото рые, как показал Като [44 47], являются маятниковыми полосами сферических волн. После этих основных работ маятниковому явлению рентгеновских волн был посвящен ряд работ [48 -б5].
В работе [48] исследовались маятниковые полосы, возникающие в монокристаллическои системе, состоящей из клиновидного, и па» раллелешшедального блоков, как это показано на рис.60.
По мнению авторов, они одновременно наблюдали маятниковые полосы сферических и плоских волн. Систему маятниковых полос Я 9 полученную от клиновидного блока, относят к сферической волне, а систему полос 5 » полученную за параллелепипедальным блоком, приписывают плоской волне. Однако, как мы увидим ниже, полосы Л являются маятниковыми полосами о -образной волны /точечный источник или узкая щель расположены на поверхности клина/, а полосы Ь , формированные в параллелешшедальном блоке, являются изображением маятниковых полос Л В работе [49] были исследованы маятниковые полосы, полученные от двухкристальной системы, состоящей из одного параллелепипедального блока и из бипризмы или сферического сегмента, В работе [50] была исследована интерференция маятниковых полос с помощью трехблочного интерферометра, один из блоков которого был клиновидным. В работе [5I-] было исследовано возникновение маятниковых полос при одновременной интерференции всех четырех волн двумодного приближения. В работе [52] впервые теоретически и экспериментально исследованы преобразования маятниковых полос при их прохождении через параллелепипедальный кристалл по схеме опыта Харта и Милна [48] в зависимости от толщины этого кристалла. В работе [бз] более строго и детально теоретически и экспериментально исследовано возникновение маятниковых полос в клинообразных кристаллах при точечном источнике /сферическая волна/ в зависимости от толщины кристаллов и расстояния источник-образец-фотопленка. Здесь исследован случай, когда рентгеновское излучение от анода рентгеновской трубки падает на кристалл. Авторами этой работы маятниковый эффект сферических волн назван "аномальным пенделлозунг-эффектом".
Работа [54], фактически, является продолжением работы [53]. В ней изложены результаты исследования влияния спектральной линии излучения, размера и положения входной щели и отклонения от точного угла Брэгга на структуру дифракционной картины.
Похожие диссертации на Исследование эффектов динамического рассеяния рентгеновских волн в зависимости от параметров кристаллической системы и природы первичного падающего пучка
