Введение к работе
Актуальность работы
Трехмерные микро- и наноструктуры (ЗБ-структуры), выполненные из разнообразных материалов, в последнее время используются в различных областях, это и оптоэлектроника, и рентгеновская оптика, и микробиология Одним из наиболее гибких и часто применяемых методов создания ЗБ-объектов в лабораторных условиях является ЗО-структурирование с помощью электронной литографии
Электронная литография имеет широкие возможности для создания 3D-рельефа, но в тоже время обладает низкой производительностью, что ограничивает ее применение созданием экспериментальных структур или небольших партий для исследовательских нужд Тем не менее, электронная литография является необходимым элементом нового метода, импринт-литографии, прогнозируемой к использованию для создания трехмерных микро-и наноструктур в промышленных масштабах Метод импринт-литографии основан на впечатывании в полимер штампа, имеющего форму, обратную создаваемому рельефу Создание же штампа осуществляется методом электронной литографии
Технология электронной литографии развивается на протяжении длительного времени Существенное внимание, соответственно, уделяется изучению свойств материалов, используемых в ней, в том числе электронным резистам На протяжении долгого времени электронная литография в основном используется для создания планарных структур, для которых точное знание контрастности резиста не так важно, главное, чтобы она имела высокое значение Поэтому на момент начала исследований, составивших основу данной диссертации, информации о свойствах резистов, особенно о контрастности, было явно недостаточно для успешного изготовления ЗБ-рельефов
Толщина пленки электронного резиста не превышает 2мкм, поэтому невозможно создать трехмерные структуры большего размера Следовательно, существует потребность в методе, позволяющем устранить это ограничение, что существенно расширит область применения электронной литографии для 3D-структурирования
Необходимость уточнения существующих методов определения контрастности резистов, разработки новых надежных способов для
непосредственного формирования ЗО-топографии микро- и наноразмеров в, например, диэлектрических материалах, определяет актуальность темы настоящей диссертационной работы
Цель и задачи работы
Целью диссертации является совершенствование методов и процессов 3D-структурирования с помощью электронной литографии Для достижения цели необходимо было решить следующие задачи
разработать быстрый и точный метод определения контрастности электронных резистов,
выявить влияние условий проявления на контрастность резиста с помощью разработанного метода определения контрастности,
разработать технологические операции, расширяющие возможности электронной литографии и позволяющие, в том числе, осуществлять формирование 3D-cipyKTyp
Научная новизна работы
1 Впервые с помощью нового оптического метода измерена зависимость
эффективной контрастности позитивного резиста от температуры проявителя
Показано, что небольшое увеличение температуры ведет к значительному
уменьшению эффективной контрастности
2 Впервые с помощью нового оптического метода была
экспериментально определена реальная (не зависящая от ускоряющего
напряжения и материала подложки) контрастность позитивного резиста
Оказалась, что она в несколько раз меньше эффективной контрастности
-
Экспериментально обнаружен новый эффект - зависимость скорости проявления электронного резиста от способа экспонирования и плотности тока (макс-эффект)
-
Разработанная для описания макс-эффекта феноменологическая модель позволила оценить его влияние на скорость проявления резиста Оказалось, что для ПММА 950К в двух предельных случаях (ток экспонирования стремится к нулю и к бесконечности) скорость проявления резиста может отличаться в три раза при одинаковой дозе экспонирования Обнаружено, что время релаксации промежуточных состояний более чем на четыре порядка больше характерного времени экспонирования резистов Такая большая величина времени релаксации
позволяет объяснить, почему влияние нагрева резиста при экспонировании на промышленных литографах практически отсутствует
Практическая значимость работы
1 Разработанный новый оптический метод, в основе которого лежит
специальная тестовая структура, может быть использован для быстрого и
точного определения эффективной контрастности резистов в лабораторных и
промышленных условиях, а также для исследования зависимости контрастности
от разных параметров проявления и экспонирования резистов
2 Учитывая при проектировании трехмерных структур влияние
последовательности экспонирования и плотности тока на результат литографии,
можно повысить качество ЗО-структурирования
3 Разработан новый метод ЗО-структурирования на основе электронной
литографии, который может быть использован для создания трехмерных
структур толщиной на порядок большей, чем толщина слоя электронного
резиста
Личный вклад диссертанта в работу
Автором изготовлены все образцы, разработан метод 3D-структурирования на основе электронной литографии, проведены все измерения, связанные с определением дозовых характеристик резистов, осуществлена обработка всех экспериментальных данных, им сформулированы положения, выносимые на защиту
Автор участвовал в разработке феноменологической модели влияния последовательности и плотности тока экспонирования на поглощенную дозу Оптические измерения также проводились при участии автора
Работа проводилась совместно с сотрудниками лаборатории Физики и технологии мезоскопических структур (технологические операции, связанные с литографией), лаборатории Интегральной оптики (оптические измерения) и лаборатории Теоретической физики (разработка феноменологической модели влияния плотности тока и последовательности экспонирования на поглощенную дозу)
Основные положения, выносимые на защиту
1 Новый оптический метод определения контрастности электронных
резистов с помощью специальной тестовой структуры, являющийся быстрым и
точным инструментом для изучения зависимости контрастности резиста от
параметров проявления Результаты исследования зависимости контрастности
резиста от температуры проявителя
-
Обнаруженная зависимость скорости проявления резиста от последовательности экспонирования и плотности тока при одинаковой дозе экспонирования (макс-эффект) Феноменологическая модель макс-эффекта, позволяющая оценить его максимальное влияние на скорость проявления резиста
-
Новый метод ЗЭ-структурирования, позволяющий создание трехмерных структур толщиной на порядок большей, чем толщина слоя электронного резиста
-
Результаты исследования спектров фотонных структур созданных в пленках резиста с красителем родамин 6G, свидетельствующие об увеличении в несколько раз интенсивности фотолюминесценции на структурах по сравнению с исходной пленкой
Апробация работы
Материалы диссертации были представлены на следующих научных конференциях
The International Conference "Micro- and Nano-Engineenng" (Cambridge, United Kingdom, MNE-2003),
The International Conference "Micro- and Nano-Electronics" (Звенигород, ICMNE-2003),
NANOSTRUCTURES Physics and Technology" (St Petersburg, 2004),
The International Conference "Micro- and Nano-Electronics - 2005" (Звенигород, ICMNE-2005),
The International Conference "Micro- and Nano-Engineenng" (Barcelona, Spam, MNE-2006),
Симпозиум "Нанофизика и наноэлектроника" (Нижний Новгород, 2006г),
European Conference on Modelling and Simulation (Riga, Latvia, 2005r)
Публикации
Основные результаты диссертационной работы изложены в одиннадцати публикациях Их список приведен в конце автореферата
Структура и объем диссертации
Диссертация состоит из введения, пяти глав, заключения и списка
литературы Диссертация изложена на ЛIQ страницах, включает ? ь
рисунков и " таблиц Список литературы содержит -^01 источник
