Электронная библиотека диссертаций и авторефератов России
dslib.net
Библиотека диссертаций
Навигация
Каталог диссертаций России
Англоязычные диссертации
Диссертации бесплатно
Предстоящие защиты
Рецензии на автореферат
Отчисления авторам
Мой кабинет
Заказы: забрать, оплатить
Мой личный счет
Мой профиль
Мой авторский профиль
Подписки на рассылки



расширенный поиск

Разработка технологии послеростовой обработки приборов на основе широкозонных полупроводниковых материалов Черных Сергей Петрович

Разработка технологии послеростовой обработки приборов на основе широкозонных полупроводниковых материалов
<
Разработка технологии послеростовой обработки приборов на основе широкозонных полупроводниковых материалов Разработка технологии послеростовой обработки приборов на основе широкозонных полупроводниковых материалов Разработка технологии послеростовой обработки приборов на основе широкозонных полупроводниковых материалов Разработка технологии послеростовой обработки приборов на основе широкозонных полупроводниковых материалов Разработка технологии послеростовой обработки приборов на основе широкозонных полупроводниковых материалов Разработка технологии послеростовой обработки приборов на основе широкозонных полупроводниковых материалов Разработка технологии послеростовой обработки приборов на основе широкозонных полупроводниковых материалов Разработка технологии послеростовой обработки приборов на основе широкозонных полупроводниковых материалов Разработка технологии послеростовой обработки приборов на основе широкозонных полупроводниковых материалов Разработка технологии послеростовой обработки приборов на основе широкозонных полупроводниковых материалов Разработка технологии послеростовой обработки приборов на основе широкозонных полупроводниковых материалов Разработка технологии послеростовой обработки приборов на основе широкозонных полупроводниковых материалов
>

Диссертация - 480 руб., доставка 10 минут, круглосуточно, без выходных и праздников

Автореферат - бесплатно, доставка 10 минут, круглосуточно, без выходных и праздников

Черных Сергей Петрович. Разработка технологии послеростовой обработки приборов на основе широкозонных полупроводниковых материалов : диссертация ... кандидата технических наук : 05.11.14 / Черных Сергей Петрович; [Место защиты: Моск. гос. ун-т приборостроения и информатики].- Москва, 2007.- 153 с.: ил. РГБ ОД, 61 08-5/193

Содержание к диссертации

Глава 1. Широкозонные полупроводниковые материалы и

приборы на их основе 15

  1. Приборы на их основе широкозонных

полупроводниковых материалов 31

Глава 2. Анализ существующих технологий утонения-разделения сапфировых подложек со сформированными

на них приборными структурами 58

Глава 3. Разработка технологии утонения сапфировых подложек со сформированными на них приборными структурами

Глава 5. Исследование функционально - эксплутадионных характеристик нитридных светодиодов и транзисторов, полученных по разработанной технологии утонения-разделения 116

Список литературы 135

Приложения 143

Введение к работе

К широкозонным полупроводникам относятся материалы с шириной запрещенной зоны близкой или превышающей 2.3 эВ. Материалы этой группы, такие как нитриды алюминия, галлия, индия; карбид кремния и алмаз уникальны по своим свойствам. Значительно большие по сравнению с «традиционными» и ваАв значения параметров, такие как: ширина запрещенной зоны, энергия связи и теплопроводность, а также максимальная рабочая температура и величина поля пробоя стали основой создания широкого спектра приборов высокотемпературной электроники 1 Например, максимальная теоретическая рабочая температура для приборов на базе находится в пределах 730-1300С, что на 400С выше, чем у классических полупроводников2. В оптоэлектронике они просто незаменимы. Излучатели и фотоприемники на их основе используются коротковолновом диапазоне видимого и ЦУ спектра и обеспечивают параметры, недостижимые другими материалами3. Алмаз, самый твердый из природных материалов, обладает рекордной теплопроводностью, в отсутствии примесей идеально прозрачен во всем оптическом диапазоне от ультрафиолетовой до дальней инфракрасной областей. Кроме того, алмаз химически инертен, устойчив в агрессивных средах, обладает высокой термической стойкостью и самой высокой радиационной стойкостью. Беспримесный алмаз является хорошим диэлектриком, а при наличии легирующих примесей проявляет свойства полупроводника с высокой подвижностью носителей заряда.

Технология производства приборов на основе широкозонных полупроводников в настоящее время является одной из самых интенсивно разрабатываемых во всем мире. Российская промышленность может быть

конкурентна на мировом рынке в технологических процессах подготовки подложек для эпитаксии пшрокозонных полупроводников или в послеростовых операциях - формирования контактов; утонения - разделения подложек; корпусирования. Российский опыт эпитаксиального выращивания подобных материалов носит лабораторный характер, получаемые структуры по соотношению цена/качество пока неконкуретоспособны. Исключением является высокочистый алмаз, производство которого, от синтеза крупных (до 10 карат) монокристаллов и изготовления из них подложек до С\Т) эпитаксии полупроводниковых алмазных структур, освоен ФГУ «Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов» (ФГУ ТИСНУМ).4

Анализ состояния производства приборов на основе широкозонных полупроводниковых материалов в России позволяет сделать выводы, обобщенные в таблице 1:

Таблица 1. Состояние готовности производства приборов на основе широкозонных полупроводниковых материалов в России (! - высокая готовность, налажено промышленное производство; % - получен лабораторный результат; ? - ведутся исследования). (* Сапфир включен в таблицу как материал подложек для выращивания гетероструктур на основе нитридов алюминия, галлия, индия.)

Таким образом, имея положительные результаты и авторские права, российские предприятия вправе на равных претендовать на свою долю международного рынка широкозонных полупроводниковых материалов и приборов на их основе. Их производство в России можно вывести на большие объемы в течение нескольких месяцев, закупая эпитаксиальные структуры за рубежом, а в России проводить характеризацию получаемых структур,

пассивацию, формирование контактов, утонение и разделение пластин на отдельные кристаллы приборов, корпусирование и испытание приборов.

Исторически массовое производство приборов на широкозонных полупроводниках началось с нитридных светодиодов и транзисторов на сапфировых подложках. Сегодня сотни промышленных установок во всем мире производят эпитаксиальные гетероструктуры на основе нитридов алюминия, галлия, индия. Объемы годового выпуска светодиодов и транзисторов на сапфировых подложках составляют миллиарды штук в год. Поэтому развитие технологии нитридных приборов на сапфировых подложках особенно актуально.

Данная работа посвящена разработке элементов послеростовой технологии, в частности, операций утонения и разделения сапфировых подложек со сформированными на них нитридными приборами. Несмотря на то, что эта проблема разбивается на две задачи: утонение и разделение, её необходимо решать комплексно в силу следующих факторов:

технологических: обе операции, по сути - механическая обработка, режимы каждой операции зависят друг от друга;

экономических: в передел поступают заготовки максимальной стоимости, соответственно брак приносит максимальный ущерб, а эффективность операций позволяет значительно снизить стоимость продукции;

функциональных: варьируя режимами обеих операций, можно добиваться различных параметров получаемых светодиодов.

Синергетический эффект объединения двух различных операций: утонения и разделения, рассматриваемых как единое целое, невозможно переоценить. Единство операции утонения-разделения иллюстрирует рис.1.

Модель кристалла после утонения-разделения с указанием критических областей возникновения дефектов

Драница раздела \ металл - структура _)

/Границы разделов \ слобв структуры

'Границы раздела структура - подложка

Контакты

Зона контактов

Зона

эпитаксиальной структуры

Зона подложки

/Приповеркностый слой4 \ после разделения j

/Приповерхностный N 1слой после утонения )

Рис. 1. Взгляд на утонение-разделение как формирование

области прибора.

Утонение. В последнее десятилетие наряду с увеличением диаметров обрабатываемых подложек из сапфира до 150 мм, ужесточаются требования к операции утонения. Размерный ряд отечественной технологии обработки подложек из сапфира не обновлялся с середины 80-х годов. До сих пор в России наиболее распространённым является процесс утонения свободным абразивом. Утонение сапфировых пластин с помощью связанного алмазного инструмента обеспечивает свободную от механических повреждений поверхность подложки, требуемые геометрические параметры и высокий выход годных. Предлагаемые на рынке технологии утонения, например компаниями Disco или G&N очень дороги, но главное - работают на высоких скоростях и
давлениях, увеличивая внутренние напряжения в подложках со сформированными структурами. В ходе выполнения данной работы на основе связанного алмазно-абразивного инструмента, изобретенного профессором B.C. Кондратенко, создана высокоэффективная технология утонения работающая при минимальных давлениях и скоростях.

Похожие диссертации на Разработка технологии послеростовой обработки приборов на основе широкозонных полупроводниковых материалов