Электронная библиотека диссертаций и авторефератов России
dslib.net
Библиотека диссертаций
Навигация
Каталог диссертаций России
Англоязычные диссертации
Диссертации бесплатно
Предстоящие защиты
Рецензии на автореферат
Отчисления авторам
Мой кабинет
Заказы: забрать, оплатить
Мой личный счет
Мой профиль
Мой авторский профиль
Подписки на рассылки



расширенный поиск

Разработка и исследование автоматизированных оптико-электронных методов контроля качества заготовок микросхем Сунь, Чанку

Данная диссертационная работа должна поступить в библиотеки в ближайшее время
Уведомить о поступлении

Диссертация, - 480 руб., доставка 1-3 часа, с 10-19 (Московское время), кроме воскресенья

Автореферат - бесплатно, доставка 10 минут, круглосуточно, без выходных и праздников

Сунь, Чанку. Разработка и исследование автоматизированных оптико-электронных методов контроля качества заготовок микросхем : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.11.07.- Санкт-Петербург, 1994.- 17 с.: ил.

Введение к работе

Актуальность_збст:^. В настоящее Бремя в электронной промышленности практически всох наиболее развитых стран мирз остро стоит задача повышении процента выхода годішх изделий, и частности микросхем, на конечном этапе технологической линии их производства, йажно отметить, что в связи с резким усложнением злектрсчшых схем за счет повышения стелеші их интеграции стоимость изнотовлаїшя кристаллов больших интегральных схем (іЖ',), особенно микропроцессоров и схем памяти, становится все больше по отношению к стоимости изготовления заготовок корпусов з тих микросхем. Б этом случае предварительный контроль качества и отбраковка заготовок на раннем,этапе их производства (до установки кристаллов ЕйС и внешних выводов, содержащих драгоценнее металіді) двет значительный экономический эффект. С другой с троны стремительное усложнение микросхем влечет за собой увеличение количества внешних выводов БКС (свыше ISO), а также уменьшение расстояния между ними {ло С.5 мм). Н своя очередь это приводит к усложнению и самих заготовок корпусов, из которых наносятся соединительные проводники между контактами кристаллов БИС и внешними виводами.

Таким образом, операция предварительного контроля заготовок, оставаясь достаточно трудоемкой, является одной из основних в процессе производства мікросхем. В то же время именно эта операция наиболее сложно поддается автоматизации и в значительной мерз определяет производительность ЕСЄЙ технологической линии.

Как показала практика, среди возможных принципов организации автоматизированных систем контроля наиболее жизнеспособными являются системы, допускающие сравнительно простую перенастройку в случае изменения вида контролируемых изделий, но в то же время обеспечивающих высокую надежность контроля при наличии дестабилизирующих факторов в условях реального производства. Такими свойствами могут обладать так называемые обучаемые системы, в которых окончательное решающее правило ^.ор.мируетсл не на стадии их проектирования и изготовления, а в течение этапа обучения (калибровки), пред-

_ 4 -

швствуэдого режиму автоматического функционирования. На атом этапе в течение относительно непродолжительного вромоііи привлекается человек-оператор,' роль которого сводится к обучению системы, то есть к ее настройко на конкретяііе отличительна признаки д&фектов заготовок, к формирования ноля допустимых отклонений и т.д. Затем (поело формирования окончательного решающего правила) система продолжает ' работу в автоматическом режиме.

Подобный принцип организации системи контроля получил название обучаемого автомата. Б этом случае участие оператора v работа ситемы минимизировано и обеспечивается высокая гибкость оо адаптации. '

Настоящая диссертационная работа посвящена определению технических путай создания обучаемой системы автоматизированного контроля заготовок микросхем с учетом возможностей современной оптико-электронной техники и условий реального производства. . '

Цель работы. Целью диссертационной работы является разработка рекомендацій и основных элементов методики проектирования быстродействующих легко, адаптируемых телевизионных систем оперативного контроля качества заготовок микросхем на основе обучаемого автомата.

Задачи исследования. Указанная цель может бить достигнута путем решения следужих основных задач:

анализ известных систем и методов контроля качества заготовок микросхем и обоснованный выбор базовой'структурной схемы обучаемой системы технического зрения;

обоснование технических требований к отдельным функциональным блокам системы;

разработка алгоритмов обработки видеоинфармации, пригодных для использования в реальной системе контроля;

создание математической модели системы технического зроїшя, включающей в себя математические модели объектов контроля, всех функциональных блоков'системы, а также алгоритмы обработки видеоинформации;

оценка реальных характеристик надежности обнаружения дефектов на основе математического моделирования процесса и на основа физического моделирования с использованием реаль-

ноіі универсальной системы технического зрения;

- разработка методики выбора основних параметров отде
льных звеньев системы технического зрешш на осново обучае
мого автомата с учетом полученных результатов математичэс-
кого и физического моделирования. .

Методыисследования. При -решения поставленных задач использовались:

метод математического (имитационного) моделирования нэ УВМ Физических процессов, протекающих в отдельных гвоньях реальной системи, а также предлагаемых алгоритмов обработки сигналов;

метод экспериментальной проверки исследуемого алгоритма обработки сигналов на базе действующей физической модели системи;

па этапе статистической обработки результатов моделирования аналитические методы теории вероятностей.

К?Х?Уая_новпзня Работы заключается в разработке методики моделирования и выбора оптимальных параметров при создании различных обучаемых систем технического зрения, орионти-' ровншшх на задачи контроля вившего вида изделий в процессе производства.

Основные результаты,выносимые на защиту.

1. Общая структура и принцип действия быстродействующей,
легко адаптируемой системы контроля на основе обучаемого
автомата. В предлагаемом варианте простота рабочего алго
ритма сочетается с устойчивостью к дестабилизирующим фак
торам л гибкостью системі при изменении вида контролиру
емых изделий.

  1. Математическая модель системы контроля заготовок микросхем, включзндзя в себя модели всех звеньев оптико-электронного тракта и алгоритмы обработки сигнала, реализующие принцип обучаемого автомата.

  2. Результаты исследования потенциальных возможностей подобных систем контроля и обоснованные требования к основным звеньям системы.

  3. Зависимости вероятностных характеристик обнаружения де-фектов от параметров различных звеньев оптико-электронной системы и параметров алгоритмов обработки сигналов.

5, Результати экспериментальных исследований, полученные на базе реальной физической модели оптико-злоктроннои системы технического зрения,- позволяющие судить о практической реализуемости и возможностях подоОішх систем. Практические результата.

  1. Выполнен анализ источников помех различных звеньев системы контроля, на основе которого выявлены наиболее существенные факторы, влияющие на работу системы в целом.

  2. Разработан пакет прикладных программ для расчета статистических параметров и характеристик-системы контроля, по-зволяздип определить параметры основных звеньев системы контроля в зависимости от параметров изделии.

3. Разработана и реализована методика экспериментальных
исследований работы системы контроля на базе универсаль
ной системы технического зрения, которая позволяет испы
тывать и корректировать разработанные алгоритмы оез тру
доемких наладочных операции.

4. Результаты физического и математического моделирования
могут быть использованы непосредственно в практике проек
тирования оптико-электронных -систем подобного типа.

Реализация результатов работы. Результаты работы наили применение в учебном процессе на кафедре "оптико-электронные приборы и системі" СПГИТМО(ТУ) в составе лабораторного практикума .

Апробация работы. Результаты работы обсуэдены на научном семинаре кафедры "Оптико-электронные приборы' и системы" СШ7:Т.М0('?У).

.Структура и объем работы. Диссертация состоит из введения, четырех глав, заключения, библиографического списка из ЗТ^аименований и двух приложений, содержит /ц$ страниц основного текста, .2/рисунх , 3 таблицы.

Похожие диссертации на Разработка и исследование автоматизированных оптико-электронных методов контроля качества заготовок микросхем