Моделирование ионизационной реакции в C2L КМОП СБИС и проектирование КМС с заданной стойкостью к воздействию ионизирующих излучений Ридигер, Алексей Валентинович

Данная диссертационная работа должна поступить в библиотеки в ближайшее время
Уведомить о поступлении

Диссертация, - 480 руб., доставка 1-3 часа, с 10-19 (Московское время), кроме воскресенья

Автореферат - бесплатно, доставка 10 минут, круглосуточно, без выходных и праздников

Ридигер, Алексей Валентинович. Моделирование ионизационной реакции в C2L КМОП СБИС и проектирование КМС с заданной стойкостью к воздействию ионизирующих излучений : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.13.05.- Москва, 1994.- 20 с.: ил.

Похожие диссертации на Моделирование ионизационной реакции в C2L КМОП СБИС и проектирование КМС с заданной стойкостью к воздействию ионизирующих излучений

Прогнозирование показателей стойкости изделий полупроводниковой электроники к воздействию импульсных ионизирующих излучений по результатам испытанийФигуров, Валерий Сергеевич

Проектирование элементов КМОП микросхем, выполненных по технологии "кремний на изоляторе" с проектными нормами 0,5-0,35 МКМ, с повышенной стойкостью к воздействию тяжелых заряженных частицШунков, Валерий Евгеньевич

Изменение электрофизических свойств системы кремний-подзатворный окисел МОП-транзисторов с поликремниевым затвором при воздействии ионизирующего излученияХалецкий Роман Александрович

Научно-методические и аппаратно-программные средства контроля работоспособности современных изделий твердотельной СВЧ электроники при воздействии ионизирующих излученийЧуков, Георгий Викторович

Функциональные отказы в микросхемах флэш-памяти от воздействия ионизирующих излучений космического пространстваПетров Андрей Григорьевич

Методы исследования и проектирования цифровой электронной аппаратуры, функционирующей в условиях воздействия низкоинтенсивного ионизирующего излученияКалашников, Олег Арсеньевич

Методы и средства имитационных испытаний элементов вычислительной техники и автоматики на воздействие импульсов проникающего излученияМельников, Михаил Михайлович

Полупроводниковые приборы, интегральные микросхемы и устройства на их основе в условиях воздействия мощного импульсного СВЧ излученияАнтипин, Василий Вячеславович

Моделирование и проектирование элементов КМОП интегральных микросхем технологии "кремний-на-изоляторе" с повышенной стойкостью к дозовым эффектамГорбунов Максим Сергеевич

Развитие лазерных методов испытаний интегральных схем на стойкость к воздействию отдельных ядерных частицСавченков Дмитрий Владимирович