Электронная библиотека диссертаций и авторефератов России
dslib.net
Библиотека диссертаций
Навигация
Каталог диссертаций России
Англоязычные диссертации
Диссертации бесплатно
Предстоящие защиты
Рецензии на автореферат
Отчисления авторам
Мой кабинет
Заказы: забрать, оплатить
Мой личный счет
Мой профиль
Мой авторский профиль
Подписки на рассылки



расширенный поиск

Исследование влияния СВЧ-излучения высокого уровня мощности на структуры с p-n-переходом Угрюмова, Надежда Викторовна

Диссертация, - 480 руб., доставка 1-3 часа, с 10-19 (Московское время), кроме воскресенья

Автореферат - бесплатно, доставка 10 минут, круглосуточно, без выходных и праздников

Угрюмова, Надежда Викторовна. Исследование влияния СВЧ-излучения высокого уровня мощности на структуры с p-n-переходом : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10.- Саратов, 1998.- 113 с.: ил. РГБ ОД, 61 99-1/396-5

Введение к работе

Актуальность проблемы

Применение в СВЧ-диапазоне полупроводниковых элементов создает реальные условия для дальнейшего прогресса в различных областях науки и техники.

Важным фактором, стимулирующим проведение исследований физических явлений в полупроводниках на СВЧ, является открытие новых эффектов, позволяющих разрабатывать «овые полупроводниковые приборы для преобразования и управления энергией электромагнитных волн, генерации и усиления высокочастотных колебаний.

При теоретическом описании и экспериментальных исследованиях взаимодействия электромагнитного излучения СВЧ-диапазона с полупроводниковыми приборами оказывается необходимым рассматривать не только физические процессы, протекающие в полупроводниковых структурах при воздействии на них СВЧ-излучения, но и решать сложные задачи по нахождению распределения поля в электродинамической системе с полупроводгшковыми элементам. Стараясь более строго решить электродинамическую задачу, авторы часто представляют полупроводниковые активные элементы, используя сильно упрошенные модели. Взаимодействие электромагнитного излучения СВЧ-диапазона с полупроводниковыми элементами с учетом сложного характера его распределения в конкретных электродинамических системах и зависимости параметров полупроводниковых структур от уровня мощности воздействующего СВЧ-снгнала к настоящему времени, попрежнему можно считать недостаточно изученным?

При описании свойств полупроводниковых структур на СВЧ часто считают возможным использовать их стационарные или малосигнальные характеристики (вольт-амперную хасактеристику, импеданс). Такой подход в ряде случаев позволяет успешно конструировать различного типа СВЧ-устройства на полупроводниковых приборах. В то же время ясно, что с. увеличением уровня воздействующей СВЧ-мошности возможно существенное изменение свойств полупроводниковых структур.

Описание изменения вида вольт-амперных характеристик полупроводниковых структур при воздействии на них высокого уровня мощности СВЧ-снгнала и теоретический расчет возникающих при этом участков с отрицательным дифференциальным сопротивлением до настоящего времени не проводились. ~

Цель диссертационной работы

Изучение влияния СВЧ-излучения на вид вольт-амперных характеристик полупроводниковых структур на основе р-и-переходов с учетом детектотшого

эффекта, разогрева свободных .доснтелей'заряда н зависимости импеданса полу-проводниковой структуры от уровня .мощности воздействующего на шк СВЧ-

сигнала.

Научная новизна

1.Впервые теоретически оп}юан экспериментально наблюдавшийся эффект возникновения отрнцательного_дііфференшіального сопротивлеши Л'-гипа на вольт-амперных характеристиках p^-t—я-диодных структур и структур на основе невырожденного />-»г-перехода -при воздействии на них высокого уровня СВЧ-мощностн.

  1. Впервые экспериментально обнаружено наведение на вольт-амперных характеристиках диодов с невьфождепным />-л-переходом З-образных участков под действием СВЧ-излучения.

  2. Впервые обнаружена взаимосвязь эффективности умножения частоты с изменением вида вольт-амперных характеристик г>-п-переходов в сильном СВЧ-поле.

  3. Впервые обнаружено возникновение режима отрицательного дифференциального сопротивления н Переключения, при последовательном включении с туннельным диодом сопротивления, под действием внешнего СВЧ-сигнала при напряжениях питания на диоде, не достигающих пикового значения.

Достоверность полученных теоретических результатов обеспечивается строгостью используемых математических моделей, корректностью упрошаю-ших допущений, сходимостью вычислительных процессов к искомым решениям, выполнимостью предельных переходов к известным решениям, соответствием результатов расчета эксперименту. Достоверность экспериментальных результатов обеспечена применением современной стандартной измерительной аппаратуры, обработкой экспериментальных данных с помощью современных методов с использованием ЭВМ, успешным использованием на практике приборов, в основу работы которых положены результаты проведенных исследований.'

Ирак і ическая значимость работы

Наведение отрицательного дифференциального сопротивления па вольт-
амперных характеристиках />-/-п-д»юдных структур и структур на основе.невы
рожденного «-«-перехода высоким уровнем СВЧ-мошности может быть исполь
зовано при создании генераторов к усилителей і управляемым СВЧ-полгч отри
цательным сопротивлением.

* Эффект возникновения на вольт-амперных характеристиках диодов с
невырожденным /)-п-переходом участков -тнла при воздействии на них СВЧ-

излучения, представляет интерес ках для понимания физики взаимодействия СВЧ-излучения с полупроводниковыми структурами, так и при определении условий эксплуатации полупроводниковых приборов на основе струкгур с р-п-переходом.

Обнаруженный эффект возникновения генерации и режима переключения в туннельном диоде при последовательном соединении сопротивления при подаче СВЧ-мощности при напряжениях питания на диоде, не достигающих пикового значения, позволяет создавать генераторы, включаемые и управляемые внешним СВЧ-сигналом. *

Основные положения, выносимые на защиту

  1. Учет детекторного эффекта, разогрева носителей заряда и зависимое импеданса полупроводниковой структуры от уровня входной ВЧ-мощности позволяет адекватно объяснить экспериментально наблюдшопгтйся эффект возникновения отрицательного дифференциального сопротивления на вольт-амперных характеристиках р—і—п-щюшаа. структур и диодных структур на основе невырожденного р-я-перехода при воздействии на них высокого уровня СВЧ-мошности.

  2. Дополнительный нагрев кристалла диода при воздействии на него высокого уровня СВЧ-мощности не приводит к качественному изменению вида вольт-амперной'характеристики диода на основе нгвьфожденного р-гс-перехода при возникновении на ней падающего участка, а лишь вызывает его сдвиг в сторону меньших значений напряжения прямого смещения.

  3. Воздействие внешнего СВЧ-снгнала на полупроводниковые структуры на основе невырожденных р-л-переходов может приводить к возникновению на вольт-амперных характеристиках диодов участков отрицательного дифференциального сопроть^ления S-~nna.

  4. Эффективность умножения частоты диодов на основе невырожденных р-п-лереходов зависит от вида их вольт-амперных характеристик, качественным образом изменяющихся в сильном СВЧ-поле. Уровень мощности генерируемых гармоник на выходе умножительного диода максимальна при напряжениях смещения, соответствующих, экстремуму на прямой ветви вольт-амперной характеристики диода в сильном СВЧ-поле.

5. При последовательном включении с туннельным диодом сопротивления
возможно возникновение режима отрицательного дифференциального сопро
тивления и переключения под действием внешнего СВЧ-сигнала при напряже
ниях питания на диоде, не достигающих пикового значения.

Реализация результатов в яароїйгож х&зЯйстве .

Исследования вьшолнены в соответствии с грантамл Министерства общего и

профессионального образования РФ:.

'.994-1995 г.г. № 94-1-74 «Исследование влияния греющих СВЧ-полей на характеристики приборов с тз^ннеяьно-тонкими переходными слоями», № гос. Регистрации 01940005020;

« 1995-1997 г.г. № 95-3-67 (МИЭТ ТУ) «Исследование взаю лсвязи выходных характеристик приборов на основе актуалышх полупроводниковых элементов СВЧ-диапазоиа с параметрами полупроводниковых структур в слабых полях»;

« 1997-1999 г.г. № 97-5-3.2-24 "Исследование эффекта возникновения отрицательного дифференциального сопротивления на вольттаишерных характеристиках р-/-н-диодных структур и диодных структур на основе />-л-перехода при воздействии на них СВЧ-могдности".

Апробация работы

Основные результаты диссертационной работы доложены на:

1. .IV Всерос. научно-тех, тсонф. с международным участием «Актуальные про-
' блемы твердотельной электроники и микроэлектроники» в Таганроге в 1997 г.

  1. Всерос. межвуз. научной конф. «Совремешше проблемы электроники и радиофизики СВЧ», в Саратове в 1997 г.

  2. междун. научно-тех. конф.. «Актуальные проблемы электронного приборостроения АПЭП-98», в Саратове в 1998 г.

  3. V Всерос. научно-тех. конф. с международным участием «Актуальные проблемы твердотельной электроники и микроэлектроники», в Таганроге в 1998г.

  4. "Conference Proceedings Mikon-98" в Кракове в 1998 г.

6 а также на научном семинаре кафедры физики твердого тела Саратовского госуниверситета.

Публикации ,

Опубликовано 2 статьи в центральных научно-технических журналах, текст доклада на международной научно-технической конференции в Польше MIKON-98, 4 тезиса докладов на республиканских научно-технических конференциях.

Личный вклад автора выразился в самостоятельном выводе расчетных соотношений, позволяющих описать экспериментальные результаты, выборе

математической модели, проведении всего объема расчетных si экспериментальных работ, участии в формульований научных выводов.

Структура и объем диссертации

Диссертация состоит из Введения, пяти разделов, имеющих подразделы. Заключения и списка литературы. Общий объем диссертации составляет IP страниц машинописного текста, в том числе основной текст занимает 102 страниц, включая 25 рисунков. Список литературы состоит из 124 наименований и изложен на 11 страницах.

Похожие диссертации на Исследование влияния СВЧ-излучения высокого уровня мощности на структуры с p-n-переходом