Электронная библиотека диссертаций и авторефератов России
dslib.net
Библиотека диссертаций
Навигация
Каталог диссертаций России
Англоязычные диссертации
Диссертации бесплатно
Предстоящие защиты
Рецензии на автореферат
Отчисления авторам
Мой кабинет
Заказы: забрать, оплатить
Мой личный счет
Мой профиль
Мой авторский профиль
Подписки на рассылки



расширенный поиск

Теоретические и экспериментальные исследования диффузии бора и фосфора в приповерхностной области ионно-легированного кремния Боднарь, Олег Борисович

Данная диссертационная работа должна поступить в библиотеки в ближайшее время
Уведомить о поступлении

Диссертация, - 480 руб., доставка 1-3 часа, с 10-19 (Московское время), кроме воскресенья

Автореферат - бесплатно, доставка 10 минут, круглосуточно, без выходных и праздников

Боднарь, Олег Борисович. Теоретические и экспериментальные исследования диффузии бора и фосфора в приповерхностной области ионно-легированного кремния : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.07 / Моск. акад. приборостроения и информатики.- Москва, 1997.- 26 с.: ил. РГБ ОД, 9 97-1/3187-7

Введение к работе

Актуальносте теми. Теоретические и экспериментальные- исследования

процессов диффузии в твердых телах позволяют получить информацию по фундаментальным вопросам физики твердого тела, связанным с дефектной структурой и механизмами миграции атомов в реальных кристаллах.

Развитие математической теории диффузионных процессов
приобретает важное значение в связи со все более широким
использованием моделирования процессов и технологий в самых

разнообразных областях современной науки и техники.

В свете вышеизложенного, работа, связанная с развитием

математической теории диффузии, с разработкой метода измерения и
измерением коэффициентов диффузии основных примесей в

приповерхностной области ионно-легированного кремния

представляется весьма актуальным как в части развития современной
физики твердого тела, так и в части практического приложения к
исследованиям и моделированию процессов и технологий.
Цель работа. Разработка метода определения коэффициента

диффузии основной примеси в приповерхностной области ионно-

легированного кремния. Разработка математической модели диффузии
примеси в приповерхностной области ионно-легированной подложки.
Определение коэффициентов диффузии бора и фосфора, в

приповерхностной области ионно-легированного кремния.

Научная новизна. Разработан метод определения коэффициента диффузии ионно-имплантированной примеси в приповерхностной

4
области. Обнаружено существование нескольких диффузионных

потоков в приповерхностной области кремния, имплантированного

бором и фосфором. Созданы математические модели двух и

трехпоточной диффузии примеси в приповерхностной области,

учитывающие наличие потоков примеси по радиационных дефектам,

отжигающимся с течением времени. Получены аналитические решения

задачи Коши для систем линейных дифференциальных уравнений,

описывающих двух и трехпоточную диффузию для ограниченной и

полуограниченной областей. Определены температурные зависимости

коэффициентов диффузии в случае двух потоков в приповерхностной

области и температурная зависимость коэффициента перехода атомов

примеси из потока по радиационным дефектам в объемный поток для

бора, имплантированного в кремний.

Практическое значение. Разработанный метод определения

коэффициента диффузии в приповерхностной области может быть

применен для исследования структурных нарушений этой области не

только в ионно-легированных образцах, но и в эпитаксиальных слоях,

полученных методом молекулярно-лучевой эпитаксии. Основным

условием для этого является начальное распределение примеси с

максимумом не находящимся на поверхности. Кроме того, данный

метод может быть применен не только к полупроводниковым

материалам, но и к металлам и диэлектрикам при соответствующем

выборе поверхностного диффузионно-чувствительного параметра

материала.

Аналитические решения систем дифференциальных уравнений

для двухпоточной диффузии и температурные зависимости

коэффициентов диффузии бора и фосфора в приповерхностной области

ионно-легированного кремния были использованы в рамках научно-

исследовательской работы "Физико-химические методы стабилизации
процессов ионно-плазменной обработки кристаллических элементов"
N 01880024436 при составлении алгоритмов и программ расчета

моделей технологического процесса изготовления "биполярных

транзисторов, что позволило существенно сократить время разработки
и изготовления микросхем для инфракрасных фотоприемников,

применяемых на ИСЗ.

Основные результаты, представляемые к защите:

1. Метод определения коэффициента диффузии в приповерхностной
области.

2. Многопоточный механизм диффузии бора ' и фосфора в
приповерхностной области ионно-легированного кремния.

3. Математические модели и аналитические решения систем
дифференциальных уравнений, описывающих двух и трехпоточную
диффузию в ограниченном и полуограниченном пространстве, при
наличии потоков по отжигающимся радиационным дефектам и
взаимосвязи между потоками.

  1. Температурные зависимости коэффициентов диффузии бора в приповерхностной области ионно-легированного кремния и температурную зависимость коэффициента перехода атомов из потока по радиационным дефектам в объемный поток в интервале 900 - 1050 С.

  2. Механизм диффузии бора в приповерхностной области ионно-легированного кремния.

Дпробаци* работы: полученные результаты докладывались на Третьем российско-китайском симпозиуме "Актуальные проблемы современного материаловедения" г. Калуга, 1995г., на семинаре по физике твердого тела в МИСиС, 1995г., на семинаре МГАПИ,

1996г., на семинаре в Институте проблем технологии

микроэлектроники, г. Черноголовка, 1996г.

Публикация: Материалы диссертации опубликованы в пяти печатных

работах.

Структура и объем работа. Диссертация состоит из введения, трех

глав, заключения, приложения и списка цитируемой литературы.

Работа содержит 110 страниц машинописного текста, включая 10

рисунков, 1 фотографию, 2 таблицы и список литературы" из 98

наименований.