Введение к работе
Актуальность темы. Важная и актуальная задача повышения точности измерений непосредственно связана с совершенствованием уже имеющихся и разработкой новых методик аттестации различных измерительных систем, а также методов определения градуировочных характеристик и обработки результатов измерений. Градуировка скал измерительных систем, когда отметке шкалы ставится в соответствие абсолстное значение измеряемой физической величины, основана на использовании эталонов как основы измерений. В то же время некоторые шкалы измерительных систем, такие как. например, фотометрическая шкала, является нормированными и ставят в :оответствие лишь изменение физической величины на входе исследуемого устройства, а не ее абсолютное значение. Поскольку при градуировке таких шкал нет необходимости в определении абсолютного значения физической величины, то существует возможность использовать методы, не связанные с эталонами.
Разработка, исследование и применение там, где это зоэмолно, методов, не связанных с использованием эталонов или образцовых мер. является важной и актуальной задачей, т.к. юзволяет суцественно расширить спектр аттестуемых средств ізмерений независимо от параметров суцествуюцих эталонов и »талонных установок.
В настоящее время градуировка фотометрических шкал оптических
!эмерительных систем осуществляется в большинстве случаев с
юмоцью наборов образцовых ослабителей КС-101 и КС-102. а также с
юмсыью секторных дисков в ПК области спектра. Однако такие
збразцовые меры имеют предел для увеличения точности, связанный с
[зізнческимзі свойствами материала!* При использовании образцовых
іер, а также при аттестации нестандартиэованных и высокоточных
;редств измерений возникают проблемы, связанные с расширением
іинамичєского и спектрального диапазонов. Кроме того, аттестация
:амих образцовых мер является сложной научно-технической задачей
і, з свою очередь, требует применения либо эталонов, либо
геэависимых методов. . "
I. А.Никитин. В. Г,Воробьев. Прецизионная спектрсфотометрия гатериалов и покрытий. "ОМП". 1988, 12. с.,47-56.
Целью работы является обоснование и определение погрешності методов градуировки, не требуювдх применения образцовых мер у основанных на аддитивных и мультипликативных свойствах входногс сигнала, для их использования при метрологической аттесташи широкого класса высокоточных средств измерений, в том числе дл* градуировки фотометрических шкал оптических измерительных систем.
Научная новизна и практическая значимость работы..
-
Разработан и оптимизирован обобценный метод градуировк» фотометрических икал, основанный на аддитивных и мультипликативны! свойствах входного сигнала.
-
Разработан способ определения систематической методическое погрешности для ряда тестовых методов градуировки без применена образцовых мер, и с помоцью математического моделированш определены верхние. границы методической погрешности для этие методов.
3. - Предложен способ определения погрешностей, обусловленные
смеаением МНК-оценок, в тех случаях, когда аналитический аналис
невозможен, в частности, для задачи восстановления градуировочно!
характеристики фотометрической шкалы без применения образцовые
мер. ,
4.- Полученные результаты и разработанные пакеты прикладные программ позволяют применять исследованные тестовые методы дл$ градуировки фотометрических шкал широкого класса высокоточные средств измерений, а также для аттестации образцовых мер.
Внедрение. Результаты работы внедрены при разработке і аттестации установки высшей точности для средств измерение ослабления в волоконных световодах СМИ 1687-87), а также прі создании установки для автоматического сканирования фотоснимков.
Апробация. Основные результаты работы докладывались на 6-й і 7-й Всесоюзных научно-технических конференциях "Фотометрия и е« метрологическое обеспечение" С1986 и 1988 гг.). а также ш Всесоюзном научно-техническом совецании "Совершенствование среде»! связи на основе внедрения световолоконной и микропроцессорное техники" C19S6). По материалам диссертации опубликовано 7 научные работ.
Структура и объем работы. Диссертация состоит из введения,